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功率半導(dǎo)體生命周期中的測試挑戰(zhàn)
功率半導(dǎo)體器件的整個(gè)生命周期中需要進(jìn)行各種測試和表征活動(dòng)。在這個(gè)流程的每一個(gè)階段，工程師面臨著不同的測量挑戰(zhàn)，從新功率器件早期設(shè)計(jì)階段，到診斷故障及最終把器件推向市場。在許多情況下，工程師
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應(yīng)對(duì)現(xiàn)代RF測試挑戰(zhàn)，開創(chuàng)信號(hào)發(fā)生新時(shí)代
現(xiàn)代RF系統(tǒng)，如超導(dǎo)量子比特控制器、相陣?yán)走_(dá)、MIMO收發(fā)機(jī)、智能天線發(fā)射機(jī)和捷變超寬帶擴(kuò)頻通信，都基于寬帶、相干、多通道結(jié)構(gòu)。傳統(tǒng)方式采用矢量信號(hào)發(fā)生器及IQ 調(diào)制器和模擬合成器生成RF信號(hào)，由于校準(zhǔn)復(fù)雜及大規(guī)模實(shí)現(xiàn)此類系統(tǒng)的成本而存在著許多重大局限。
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是德科技攜手汽車電子及能源客戶，共同應(yīng)對(duì)測試挑戰(zhàn)，加速產(chǎn)業(yè)變革
是德科技車用電子測試與測量解決方案研討會(huì)在上海汽車創(chuàng)新港成功落下帷幕，來自是德科技汽車和能源解決方案事業(yè)部總經(jīng)理Siegfried (Sigi) Gross出席會(huì)議，并發(fā)表了專題演講。
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