測(cè)試模型

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NI TestStand處理用于航空電子的老化測(cè)試模型

Author(s): Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business GroupIndustry: Aerospace/AvionicsProducts: NI TestStand

測(cè)試測(cè)量
2012-03-29

老化測(cè)試航空電子測(cè)試模型 TESTSTAND
基于邊界掃描的板級(jí)互連測(cè)試模型研究

0 引言邊界掃描技術(shù)是聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組JTAG(Joint Test Action Group)于1987年提出一種電路測(cè)試方法，并于1990年被IEEE接納，形成了IEEE 1149．1標(biāo)準(zhǔn)。因此邊界掃描技術(shù)也被稱為JTAG測(cè)試技術(shù)。隨著大規(guī)模集成電

測(cè)試測(cè)量
2009-04-23

模型管腳 BSP 測(cè)試模型