測(cè)試驅(qū)動(dòng)

系統(tǒng)一級(jí)測(cè)試驅(qū)動(dòng)發(fā)展的3個(gè)小貼士

近年來(lái),我看到了嵌入式開(kāi)發(fā)人員在使用單元測(cè)試和測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)(TDD)方面的興趣顯著提高。測(cè)試驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)有可能降低時(shí)間到市場(chǎng)和成本,同時(shí)提高整體產(chǎn)品質(zhì)量。使用TDD的開(kāi)發(fā)人員通常編寫測(cè)試,使其失敗,然后只編寫生產(chǎn)代碼使測(cè)試通過(guò)。失敗的測(cè)試驅(qū)動(dòng)代碼開(kāi)發(fā)。