摘要:討論了數(shù)模混合芯片的典型測試方法,并按測試方法進(jìn)行了測試開發(fā);討論了測試調(diào)試中的問題以及降低測試成本的方法。該設(shè)計(jì)可滿足芯片大規(guī)模量產(chǎn)的測試需求,并能夠達(dá)到預(yù)期設(shè)計(jì)目標(biāo)。
韓國產(chǎn)業(yè)通商資源部5月29日發(fā)布消息稱,首次中韓能源對話會當(dāng)日在首爾樂天酒店舉行。雙方在會上探討了電力、天然氣和可再生能源領(lǐng)域的合作方案。 中韓兩國在去年12月舉行的首腦會談中商定,構(gòu)建
集成電路測試是對集成電路或模塊進(jìn)行檢測,通過測量對于集成電路的輸出響應(yīng)和預(yù)期輸出進(jìn)行比較,以確定或評估集成電路元器件功能和性能的過程。它是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控生產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用的重要手段。