在電子工程領域,高速運算放大器(簡稱高速運放)廣泛應用于信號處理、通信、測量儀器等領域。然而,在實際電路板測試中,高速運放有時會出現(xiàn)振蕩現(xiàn)象,這不僅影響電路的性能,還可能損壞電路元件。本文旨在深入探討高速運放在電路板測試中產(chǎn)生振蕩的原因,并提出相應的解決方案。
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