2 微電阻測試的理論研究 本章主要對高精度微電阻測試儀的相關(guān)基礎(chǔ)理論進行研究。 電阻按其大小可以分為高電阻(100k以上)、中電阻(1到l00k.)和微電阻(1.以下),本課題主要研究微歐姆數(shù)
ST首款邊緣AI通用MCU震撼登場, 設計創(chuàng)意DIY解鎖你的AI芯片創(chuàng)想力
嵌入式軟件調(diào)試專題第01季:調(diào)試原理入門
IT002國家為什么要重點發(fā)展區(qū)塊鏈技術(shù)
微信小程序-項目實戰(zhàn)開發(fā)全集
成就高薪工程師的非技術(shù)課程
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務 | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21IC電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com 電話:010-82165003 )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號