穩(wěn)定性測(cè)試

濕度環(huán)境下關(guān)于薄膜電阻的穩(wěn)定性測(cè)試

在以往的論文里，提到過(guò)薄膜電阻的阻值隨時(shí)間變化而發(fā)生漂移的現(xiàn)象，描述的是在“干熱”條件下發(fā)生的情況。然而，在相對(duì)濕度較高的地方或應(yīng)用里使用電子設(shè)備時(shí)，對(duì)元器件的可靠性來(lái)說(shuō)仍然是一個(gè)挑戰(zhàn)。因此，行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)AEC-Q200要求在偏置濕度測(cè)試85℃/ 85 % RH條件下，也要對(duì)無(wú)源元件進(jìn)行測(cè)試。通過(guò)認(rèn)證的