結(jié)構(gòu)缺陷

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ADI公司的MEMS加速度計(jì)實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)缺陷的早期檢測(cè)

Analog Devices, Inc. (ADI)全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體公司最近推出了三軸MEMS加速度計(jì)，能以極低的噪聲執(zhí)行高分辨率振動(dòng)測(cè)量，可通過無線傳感器網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)缺陷的早期檢測(cè)。最新ADXL354和ADXL355加速度計(jì)的低功耗性能可以延

模擬
2016-10-13

mems 結(jié)構(gòu)缺陷早期檢測(cè)

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