半導體設備的認證測試有許多不同類型和風格:電磁干擾和兼容性、靜電放電、瞬態(tài)脈沖、抗振性、濕度和溫度應力——不勝枚舉。這些認證測試旨在進行真實且可重復的實驗室實驗,代表被測設備的應用環(huán)境。有些測試是獨立的,有些是整個套件的一部分;無論哪種方式,在您的設備進入市場之前,都需要通過大量的測試。
1.線圈脈沖測試原理線圈脈沖測試原理圖上圖中: C1:儲能電容 C2:諧振容量 Cp:線圈兩端等效并聯(lián)電容 R: 能量消耗等效并聯(lián)電阻 Lx:線圈等效電感預先對儲能電容C1充電,充電電壓為儀器設定的最大電壓,以一極
引言 納米技術研究已深入到原子挨原子的分子級,構造具有全新特性的新結構。特別地,納米電子領域的發(fā)展十分迅速,其潛在影響涉及非常寬的行業(yè)領域。目前的納米電子研究的內容主要是如何開發(fā)利用碳納米
由一個或多個線圈組合而成的電感器、變壓器、馬達等繞線元件,通常需要通過下列途徑來完整地評估該線繞元件的品質情況:1、線圈之繞線電阻DCR(銅阻),繞線感量(L)圈數(shù)N、圈數(shù)比例(Np/Ns),線圈間容量(Cp),鐵
在對納米器件進行電流-電壓(I-V)脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流,因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應。這里,低電平測量技術不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電導率材料的電阻測量都非常重要。
1工作原理本系統(tǒng)充分利用89C51單片機的控制和計算能力,采用MCS-51匯編語言,設計了一種基于平均功率法的微波脈沖測試系統(tǒng)。平均功率法測量的是射頻脈沖復重周期的平均功率,并采用輔助方法測出脈沖的占空系數(shù)。設脈
1工作原理本系統(tǒng)充分利用89C51單片機的控制和計算能力,采用MCS-51匯編語言,設計了一種基于平均功率法的微波脈沖測試系統(tǒng)。平均功率法測量的是射頻脈沖復重周期的平均功率,并采用輔助方法測出脈沖的占空系數(shù)。設脈
解決問題:脈沖I-V測試 ——納米測試小技巧在對納米器件進行電流-電壓(I-V)脈沖特征分析時通常需要測量非常小的電壓或電流,因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應。這里,
隨著納米技術日新月異的發(fā)展,研究已深入到原子挨原子的分子級,構造具有全新特性的新結構。特別地,納米電子領域的發(fā)展十分迅速,其潛在影響涉及非常寬的行業(yè)領域。目前的納米電子研究的內容主要是如何開發(fā)利用碳納
隨著納米技術日新月異的發(fā)展,研究已深入到原子挨原子的分子級,構造具有全新特性的新結構。特別地,納米電子領域的發(fā)展十分迅速,其潛在影響涉及非常寬的行業(yè)領域。目前的納米電子研究的內容主要是如何開發(fā)利用碳納