在現(xiàn)代電子技術(shù)飛速發(fā)展的今天,電子設(shè)備的性能和可靠性愈發(fā)受到關(guān)注。其中,電磁干擾(EMI)和輸出噪聲問題成為影響電子設(shè)備正常運行的關(guān)鍵因素。有效解決這些問題,對于提升電子設(shè)備的性能、穩(wěn)定性以及符合相關(guān)標準要求具有重要意義。
采樣保持(THA)輸出噪聲有兩個關(guān)鍵噪聲分量:采樣噪聲和輸出緩沖放大器噪聲。
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