摘要:討論了數(shù)?;旌闲酒牡湫蜏y試方法,并按測試方法進(jìn)行了測試開發(fā);討論了測試調(diào)試中的問題以及降低測試成本的方法。該設(shè)計可滿足芯片大規(guī)模量產(chǎn)的測試需求,并能夠達(dá)到預(yù)期設(shè)計目標(biāo)。
核心正是NI一直推行的以軟件為中心的平臺化解決方案?!皶r勢造英雄”,NI解決方案在5G時代,在半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的異軍突起離不開當(dāng)下多種新興技術(shù)積聚引發(fā)的綜合效應(yīng)