高溫存儲(chǔ)測(cè)試

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  • 高溫存儲(chǔ)測(cè)試對(duì)我們使用的降壓轉(zhuǎn)換器很重要

    存儲(chǔ)溫度額定值是用于確定電源模塊可靠性的關(guān)鍵指標(biāo),但該指標(biāo)并不總是像看起來(lái)的那樣。為了確保為您的設(shè)備選擇正確的模塊,您需要確保模塊制造商正在獨(dú)立驗(yàn)證電源模塊中使用的獨(dú)立電感組件。電感器資格測(cè)試在不同公司和數(shù)量之間沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)化,數(shù)據(jù)表上出現(xiàn)的額定值可能不一致。在本文中,我將探討 TI 的模塊高溫存儲(chǔ) (HTS) 測(cè)試以及電感器的單獨(dú)測(cè)試。