2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]復(fù)雜的DUT可能在測試夾具循環(huán)至下一個部件之前要求多次的源激勵信號和進(jìn)行相應(yīng)的響應(yīng)信號的測量??s短測試時間的第一步可通過將單獨(dú)功能的源-測量儀器轉(zhuǎn)變?yōu)榧墒降腟MU獲得。這將減少觸發(fā)延
2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]可降低測試成本的重要參數(shù)在本文的前面,介紹過四個降低測試成本的關(guān)鍵因素:縮短測試時間、縮短開發(fā)時間、減少測試設(shè)備所占的面積和機(jī)架的空間大小以及降低系統(tǒng)的保有成本。每個因素都有許多
2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]并行I-V測試[2]系統(tǒng)――適用于復(fù)雜器件的多個DUT測試或多通道測試的系統(tǒng)。對此類DUT的測試,速度取決于儀器、應(yīng)用程序以及在施加激勵源后DUT達(dá)到穩(wěn)定響應(yīng)時所需的時間(過早的測量將產(chǎn)生錯誤
2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]典型的測試設(shè)備結(jié)構(gòu)當(dāng)我們在選擇生產(chǎn)測試設(shè)備時,考慮前面提到的三大類系統(tǒng)是大有裨益的:u 單機(jī)/單通道I-V解決方案u 并行I-V測試系統(tǒng)u 可隨意組合的多通道系統(tǒng)單機(jī)/單通道[2]I-V解決方案――
2602型雙通道系統(tǒng)源表[1]測試應(yīng)用與設(shè)備結(jié)構(gòu)的配合在面臨這些挑戰(zhàn)時,生產(chǎn)測試工程師必須徹底縱覽ATE前景,尋找新的硬件結(jié)構(gòu)和軟件結(jié)構(gòu),從中找出滿足其測試功能所需的最佳選擇。當(dāng)然,根據(jù)具體應(yīng)用選擇成本最節(jié)省的