在電子電路設(shè)計中,EMC和EMI是開發(fā)者永遠需要面對的問題。電路效率再高,不能滿足EMC的要求也是無濟于事,因此如何通過EMC和EMI的測試成為了開發(fā)者關(guān)心的話題,本文將為大家介紹在EMI和EMC中應(yīng)該注意的
挑戰(zhàn)趣味測試,驗證您是存儲達人還是內(nèi)存大神
、深度剖析 C 語言 結(jié)構(gòu)體/聯(lián)合/枚舉/位域:鉑金十三講 之 (12)
ARM裸機第一部分-ARM那些你得知道的事兒
微信小程序 9大關(guān)鍵入口 信息配置教學(xué)
19年最新小程序行業(yè)分析
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21IC電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com 電話:010-82165003 )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號