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“近動態(tài)方程”為你預測芯片內(nèi)錯誤
采用一種配備電子失效模擬技術(shù)的被稱作“近動態(tài)方程（peridynamic equations）”的新方法，工程師可以在流片之前，探測到會導致芯片裂縫、破裂和接口故障的設計缺陷。 與傳統(tǒng)的的微分方程（differential equations）
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“近動態(tài)方程”登場，為你預測芯片內(nèi)錯誤
采用一種配備電子失效模擬技術(shù)的被稱作“近動態(tài)方程（peridynamic equations）”的新方法，工程師可以在流片之前，探測到會導致芯片裂縫、破裂和接口故障的設計缺陷。 與傳統(tǒng)的的微分方程（differential equations）
