本應(yīng)用筆記討論逐次逼近寄存器(SAR)型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)中的片內(nèi)過(guò)采樣。常見(jiàn)過(guò)采樣技術(shù)有兩種:正常平均和滾動(dòng)平均。
挑戰(zhàn)趣味測(cè)試,驗(yàn)證您是存儲(chǔ)達(dá)人還是內(nèi)存大神
C 語(yǔ)言靈魂 指針 黃金十一講 之(3)
物聯(lián)網(wǎng)云平臺(tái)實(shí)戰(zhàn)開(kāi)發(fā)
一天學(xué)會(huì)使用PADS進(jìn)行產(chǎn)品PCB設(shè)計(jì)-高效實(shí)用
3小時(shí)熟悉Allegro軟件功能、層作用、與114個(gè)高效快捷鍵
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯(cuò)誤 其它
本站介紹 | 申請(qǐng)友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠(chéng)聘英才
ICP許可證號(hào):京ICP證070360號(hào) 21IC電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報(bào)窗口( 郵箱:macysun@21ic.com 電話:010-82165003 )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號(hào)