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基于J750EX測試系統(tǒng)的SRAM VDSR32M32測試技術研究
VDSR32M32是珠海歐比特公司自主研發(fā)的一種高速、大容量的靜態(tài)隨機器(SRAM)用其對大容量數據進行高速存取。本文首先介紹了該芯片的結構和原理，其次詳細闡述了基于J750測試系統(tǒng)的測試技術研究，提出了采用J750EX測試系統(tǒng)的DSIO及其他模塊實現對SRAM VDSR16M32進行電性測試及功能測試。另外，針對SRAM的關鍵時序參數，如TAA（地址變化到數據輸出有效時間）、TACS(片選下降到數據輸出有效時間)、TOE（讀信號下降到數據輸出有效時間）等，使用測試系統(tǒng)為器件施加適當的控制激勵，完成SRAM的時序配合，從而達到器件性能的測試要求。
