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整合眾多特點(diǎn)和性能以解決數(shù)據(jù)采集兼容性問(wèn)題

現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集和信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)既復(fù)雜又精細(xì)。幾十年的 IC 和應(yīng)用開發(fā)以及一代又一代設(shè)計(jì)已經(jīng)優(yōu)化了性能和眾多優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)使性能不斷提高、優(yōu)點(diǎn)不斷增多。新的設(shè)計(jì)必須憑借精心挑選的性能、尺寸、電源范圍、穩(wěn)定性以及更多優(yōu)點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)與之前設(shè)計(jì)的差異化。同時(shí)，DAC、ADC、電壓基準(zhǔn)等高性能集成電路的性能已經(jīng)被推進(jìn)到了極限。關(guān)于電壓基準(zhǔn)，常常必須在精確度和眾多優(yōu)點(diǎn)之間做出設(shè)計(jì)選擇。當(dāng)需要最高性能時(shí)，就有可能缺乏靈活性和兼容性。