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PLTS的校準(zhǔn)問(wèn)題

問(wèn)：用PLTS對(duì)PNA校準(zhǔn)后，測(cè)量時(shí)能否修改測(cè)量點(diǎn)數(shù)？答：不能。如果是在對(duì)PNA校準(zhǔn)后手動(dòng)在PNA上進(jìn)行測(cè)量，PNA允許修改測(cè)量點(diǎn)數(shù)，并且會(huì)對(duì)校準(zhǔn)誤差項(xiàng)進(jìn)行插值運(yùn)算以適應(yīng)不同的頻率設(shè)置，插值運(yùn)算會(huì)引入一部分較小的誤差

測(cè)試測(cè)量
2018-10-25

plts 校準(zhǔn)問(wèn)題
【FAQ 之物理層測(cè)試系統(tǒng)（PLTS）】圖像顯示不全的問(wèn)題

問(wèn)：PLTS 5.5（或以下版本）圖像顯示不全的問(wèn)題（顯示成白色方塊或其它顏色）。答：這是PLTS老版本使用的DirectDraw與操作系統(tǒng)的兼容性問(wèn)題，我們?cè)谛掳姹镜腜LTS已經(jīng)解決了這個(gè)問(wèn)題，建議用戶升級(jí)到最新的PLTS版本（

測(cè)試測(cè)量
2018-08-07

圖像顯示 faq 物理層測(cè)試系統(tǒng) plts
測(cè)量分享 | 探針性能參數(shù)的測(cè)試與分析

測(cè)試中我們利用40GHz頻率范圍的N5244A PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和PLTS物理層分析軟件，能夠?qū)μ结樀男阅茏鋈轿坏臏y(cè)試和分析，從而作為判斷探針質(zhì)量的一個(gè)依據(jù)。

測(cè)試測(cè)量
2017-09-11

pna-x 探針性能測(cè)試 n5244a plts

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