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集成電路RF噪聲抑制能力測量技術
本文描述了一種通用的集成電路RF噪聲抑制能力測量技術。RF抑制能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下，該RF電平代表電路工作時可能受到的干擾強度。這樣就產(chǎn)生了一個標
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實時頻譜分析儀可揭示難檢的毛刺和其它瞬態(tài)RF信號
數(shù)字射頻(RF)技術迅速發(fā)展帶來一個結果，就是頻譜越來越擁擠，使用效率也越來越高;與此同時，現(xiàn)代RF信號也變得異常復雜。
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矢量網(wǎng)絡分析儀提供解決方案
測量傳統(tǒng)RF信號時并不能經(jīng)常達到預期效果，如常用的單端式傳輸線中的微帶線架構間的傳導板常被視為理想接地，但由于許多電路器件以其為參考電位的操作模式，從而導致板上產(chǎn)生電流。而且微帶線本身也會受磁場干擾而成為干擾源并影響到其他傳輸線或器件，這些問題都可以采用對稱性的平衡式器件來解決。
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應對現(xiàn)代RF測試挑戰(zhàn)，開創(chuàng)信號發(fā)生新時代
現(xiàn)代RF系統(tǒng)，如超導量子比特控制器、相陣雷達、MIMO收發(fā)機、智能天線發(fā)射機和捷變超寬帶擴頻通信，都基于寬帶、相干、多通道結構。傳統(tǒng)方式采用矢量信號發(fā)生器及IQ 調制器和模擬合成器生成RF信號，由于校準復雜及大規(guī)模實現(xiàn)此類系統(tǒng)的成本而存在著許多重大局限。
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