rf抗干擾能力測(cè)試

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  • 確定RF抗干擾能力的測(cè)量技術(shù)

    本文說(shuō)明了一種通用的集成電路RF噪聲抑制測(cè)量技術(shù)。RF抗干擾能力測(cè)試將電路板置于可控制的RF信號(hào)電平下，RF電平代表電路工作時(shí)可能受到的干擾強(qiáng)度。從而產(chǎn)生了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化、結(jié)構(gòu)化的測(cè)試方法，使用這種方法能夠得到在質(zhì)量分析中可重復(fù)的測(cè)試結(jié)果。這樣的測(cè)試結(jié)果有助于IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路。