馬 磊
黃 萍
Adam Smith
市場開發(fā)經(jīng)理
姚 遠
LTE發(fā)射機ACLR性能的測量技術
相鄰信道泄漏功率比ACLR 是 LTE 射頻發(fā)射機一致性測試中的一個重要的發(fā)射機特性。這些測試的目的是驗證被測件是否達到了基站(eNB)和用戶設備(UE)中的最低要求。裝有 LTE 特定信號生成軟件的信號發(fā)生器、裝有 LTE 特定測量軟件的現(xiàn)代化信號分析儀,以及針對該分析儀優(yōu)化的方法,可以幫助測試人員戰(zhàn)勝這一挑戰(zhàn)。
射頻波束賦形技術改善TD-LTE蜂窩小區(qū)邊緣性能
使用多天線波束賦形發(fā)射技術可以發(fā)揮關鍵的改善作用,尤其是對TD-LTE網(wǎng)絡而言,因為在該 網(wǎng)絡中上下行鏈路頻率是相同的,可以假設信道互易。波束賦形的主要測試挑戰(zhàn)是需要驗證和顯示物理射頻天線陣列的波束賦形信號性能,以便對以下指標進行驗證:1、eNB 射頻天線校準精度;2、基帶編碼波束賦形加權算法正確性;3、射頻天線處的MIMO信號和雙層EVM。
MIMO的多變催生多種測試解決方案
多入多出(MIMO)天線系統(tǒng)的多樣性和持續(xù)發(fā)展特性迫使測試公司要努力走在行業(yè)要求的前面。根據(jù)完成測試的場所不同,從學術和行業(yè)研發(fā)實驗室到產(chǎn)品質(zhì)量認證和制造,或是從IC到基站到手機,具體要求都有相當大的變化。研發(fā)實驗室中驗證尖端性能的最新測試測量技術,以及針對美國和其它地區(qū)的高成本效益生產(chǎn)測試近來都在發(fā)生變化。
利用ACK應答測量WLAN接收機指標的方法介紹
WLAN設備接收機測試傳統(tǒng)的方法是儀表發(fā)射一定數(shù)量的數(shù)據(jù)包后,查詢DUT正確接收的數(shù)量,然后計算誤包率。這種方法需要有查詢DUT的操作,不僅需要DUT的控制指令或軟件支持,而且增加了實現(xiàn)的復雜度和時間開銷。萊特波特公司W(wǎng)LAN測試儀IQxel創(chuàng)新的提出利用IEEE802.11規(guī)范中定義的ACK應答機制測量接收機指標的方法,不僅簡化了測試過程,也提高了測試效率。
以軟件為核心的無線測試系統(tǒng)設計與應用
NI提出的基于PXI的無線測試平臺提供了一種"打破常規(guī)"的解決思路。即使用基于PXI的模塊化射頻組件,用戶通過軟件定義儀器的功能,并實現(xiàn)自定義的無線測試應用。針對快速演進的通信協(xié)議,基于NI PXI的無線測試方案,只需要升級與之相對應的最新無線工具包,即可進行最新標準的測試。
LTE測試技術進步顯著 未來仍面臨三重關
LTE網(wǎng)絡、2G和3G網(wǎng)絡將長期共存,共同發(fā)展,多模、多制式、多頻的融合也是運營商建設LTE網(wǎng)絡的基本策略之一。經(jīng)過業(yè)界的持續(xù)努力與實驗網(wǎng)的驗證,LTE網(wǎng)絡測試領域已取得了很大進步。但在多網(wǎng)協(xié)同的發(fā)展方向上,仍面臨諸多挑戰(zhàn),需要進一步積極應對。
從芯片研發(fā)到終端生產(chǎn),從網(wǎng)絡部署到服務保證,LTE的測試需要多種儀器,下面是市場上的部分測試儀器。
安捷倫E7515A無線綜測儀
NI LTE測量套件
安捷倫便攜頻譜儀
艾法斯LTE-A基站測試儀
羅德與施瓦茨VoLTE測試解決方案
萊特波特IQxel-M8
- R&S CMW500的新特性助力手機開展LTE-A和VoLTE測試
- 羅德與施瓦茨公司2013年TD-LTE創(chuàng)新峰會成功舉辦
- 艾法斯推出單機箱LTE-A基站測試儀
- 艾法斯顯著縮短服務中心LTE移動終端的測試時間
- 聚焦4G,安捷倫測試測量大會引領行業(yè)創(chuàng)新
- 全新 Agilent EXM 無線測試儀重磅出擊 確保 LTE-Advanced、802.11ac WLAN 設備批量生產(chǎn)
- LitePoint推出在實驗室測試LTE蜂窩設備的新解決方案
- LitePoint:掀起智能終端測試革命
- NI推出新一代軟件定義儀器:200MHz矢量信號收發(fā)儀 可滿足802.11ac、160MHz WLAN和LTE Advanced等新標準
- 安立公司多測試系統(tǒng)在LTE Advanced載波聚合的GCF認證中取得領先地位
- 思博倫集成解決方案確保VoLTE成功部署
- 福祿克首推針對蜂窩卸載部署頻譜的分析工具