怎樣判斷薄膜電容是否損壞？薄膜電容好壞分析

從理論上來(lái)講，只要是質(zhì)量合格、使用方法正確，薄膜電容絕不是容易損壞的電子元器件，但現(xiàn)實(shí)情況是，由于打價(jià)格戰(zhàn)的原因，還是有很多廠家以犧牲電容品質(zhì)來(lái)降低價(jià)格，薄膜電容質(zhì)量好壞怎么判斷?下面教大家一些分辨的小技巧。

1)薄膜材料不同。

對(duì)于薄膜電容來(lái)講，成本高的就是薄膜原材料，大公司和小公司生產(chǎn)的薄膜電容質(zhì)量、價(jià)格差別極大，一些廠家為了減少成本，肯定會(huì)選擇價(jià)格更低的小廠劣質(zhì)薄膜，這樣薄膜蒸鍍不均勻、有毛刺，或者直接選購(gòu)金屬膜廠家生產(chǎn)中產(chǎn)生的不良品，使用劣質(zhì)薄膜，生產(chǎn)出來(lái)的薄膜電容質(zhì)量肯定會(huì)很差。

2)噴金的區(qū)別。

薄膜電容的噴金應(yīng)該使用五元合金或六元合金，這樣才能保證電容的電性能。劣質(zhì)薄膜電容為了節(jié)省成本，會(huì)使用純鋅噴金，雖然成本變低，但電容出現(xiàn)品質(zhì)問(wèn)題的幾率變大。

3)CP線(xiàn)的區(qū)別。

劣質(zhì)的CP線(xiàn)，存在的問(wèn)題主要有，線(xiàn)徑不夠，就像蓋房子鋼筋偷工減料的原理一樣，把CP線(xiàn)拉得更細(xì)。同時(shí)劣質(zhì)CP線(xiàn)也存在錫、銅含量偏低的問(wèn)題，這樣就導(dǎo)致電容焊接不好，極容易虛焊，過(guò)電流能力差。

4)額定電壓的區(qū)別。

劣質(zhì)電容為了打價(jià)格戰(zhàn)，常用的一種手法，就是用低壓電容冒充高壓電容，一些標(biāo)的耐壓為630V的薄膜電容，它們其實(shí)真實(shí)額定電壓為400V，電壓虛標(biāo)后就會(huì)容易損壞。

如何測(cè)試薄膜電容的好壞：沒(méi)有專(zhuān)用儀器的情況下，可以通過(guò)萬(wàn)用表的電阻來(lái)檢測(cè)和判斷電容器的質(zhì)量。對(duì)于大容量的固定電容器，可用萬(wàn)用表的電阻測(cè)量電容器的兩個(gè)電極。打捆針應(yīng)朝阻力小的方向擺動(dòng)，然后緩慢地?cái)[動(dòng)回∞。然后交換測(cè)試桿，再次嘗試查看針的擺動(dòng)。如果測(cè)試棒已經(jīng)接觸到電容器的引線(xiàn)，指針應(yīng)該接近∞，否則，表明電容器有泄漏。如果測(cè)量時(shí)指針根本不動(dòng)，說(shuō)明電容器發(fā)生故障或開(kāi)路;如果指針擺動(dòng)但不能回到起點(diǎn)，說(shuō)明電容器泄漏量大，質(zhì)量差。

在沒(méi)有專(zhuān)用儀器的情況下，可以通過(guò)萬(wàn)用表的電阻來(lái)檢測(cè)和判斷電容器的質(zhì)量。對(duì)于大容量(大于1μf)的固定電容器，可用萬(wàn)用表(R×1000)的電阻測(cè)量電容器的兩個(gè)電極。打捆針應(yīng)朝阻力小的方向擺動(dòng)，然后緩慢地?cái)[動(dòng)回∞。然后交換測(cè)試桿，再次嘗試查看針的擺動(dòng)。擺動(dòng)越大，電容器的電容就越大。如果測(cè)試棒已經(jīng)接觸到電容器的引線(xiàn)，指針應(yīng)該接近∞，否則，表明電容器有泄漏。電阻越小，泄漏越大，電容器的質(zhì)量就越差。如果測(cè)量時(shí)指針根本不動(dòng)，說(shuō)明電容器發(fā)生故障或開(kāi)路;如果指針擺動(dòng)但不能回到起點(diǎn)，說(shuō)明電容器泄漏量大，質(zhì)量差。

必須先切斷測(cè)試電路的電容，然后先釋放高壓電容，再測(cè)量電路中整流后的濾波電容(或兩端電阻較大的其他電路)。如果在電路測(cè)量中無(wú)法確定電容，則只能取消測(cè)量。

如果有數(shù)字電橋，就可以使用LCR數(shù)字電橋，在20℃、1KHZ的測(cè)試條件下，看一下它的損耗角正切值是不是在允許范圍內(nèi)。如果有條件的話(huà)，可以對(duì)電容器進(jìn)行高溫老化，可以在高溫85℃，額定電壓下，連續(xù)24小時(shí)，檢測(cè)其漏電流的流動(dòng)情況，如果波動(dòng)不大，屬于質(zhì)量合格的電容器，如果波動(dòng)很大，屬于質(zhì)量很差的電容器。