無線通信系統(tǒng)中的IQ正交調(diào)制器的基本原理
?IQ正交調(diào)制器?是一種將基帶信號調(diào)制到射頻載波的設(shè)備,主要用于無線通信系統(tǒng)中。它的核心功能是將基帶信號(即I和Q信號)與載波進(jìn)行正交調(diào)制,生成所需的射頻信號。
IQ正交調(diào)制器的基本原理
IQ正交調(diào)制器主要由兩部分組成:IQ基帶發(fā)生器和IQ混頻器。IQ基帶發(fā)生器產(chǎn)生I和Q信號,這兩個(gè)信號是相位相差90度的正弦波,分別代表“同相”(I)和“正交”(Q)。混頻器則將這些信號與載波信號進(jìn)行混合,生成最終的射頻信號。通過改變I和Q信號的振幅,可以實(shí)現(xiàn)不同的調(diào)制方式,如調(diào)幅、調(diào)頻或調(diào)相?12。
IQ正交調(diào)制器的應(yīng)用場景
IQ正交調(diào)制器廣泛應(yīng)用于各種無線通信系統(tǒng)中,特別是在直接上變頻(零中頻調(diào)制)中表現(xiàn)優(yōu)異。它被廣泛應(yīng)用于蜂窩移動(dòng)通信、WLAN、UWB超通信系統(tǒng)、藍(lán)牙、GPS等系統(tǒng)中。由于直接上變頻發(fā)射機(jī)結(jié)構(gòu)簡單,省去了第二本振、中頻濾波器和混頻器,從而降低了成本、體積和功耗?2。
IQ正交調(diào)制器的優(yōu)缺點(diǎn)
?優(yōu)點(diǎn)?:
?高相位精度?:能夠提供較高的相位精度和幅度平衡,適合高精度的通信需求。
?簡化結(jié)構(gòu)?:在直接上變頻應(yīng)用中,簡化了發(fā)射機(jī)結(jié)構(gòu),降低了成本和功耗。
?缺點(diǎn)?:
?非理想因素?:由于非理想因素(如本振泄漏和邊帶抑制問題),輸出信號可能產(chǎn)生失真,影響通信質(zhì)量。為了確保通信質(zhì)量,需要對IQ調(diào)制器的射頻性能進(jìn)行全面測試?2。
通常有:
· 直接上變頻(又稱:零中頻調(diào)制)
· 間接上變頻(又稱:兩級變頻或超外差式)
· 數(shù)字中頻發(fā)射機(jī)
標(biāo)準(zhǔn)的IQ正交調(diào)制電路的結(jié)構(gòu)非常簡單,它分為IQ 基帶發(fā)生器和IQ 混頻器兩大部分。不管是調(diào)幅,調(diào)頻或是調(diào)相信號,只需要通過改變不同的IQ 基帶信號就可以實(shí)現(xiàn)。而IQ 調(diào)制器的作用是將基帶IQ 信號搬移到載波上。正交調(diào)制器通常能實(shí)現(xiàn)較高的相位精度與幅度平衡,非常適合于通信系統(tǒng)中的直接上變頻(零中頻調(diào)制),因此廣泛用于直接上變頻發(fā)射機(jī),例如蜂窩移動(dòng)通信、WLAN、UWB超通信系統(tǒng)、藍(lán)牙、GPS 等系統(tǒng)中,是現(xiàn)代無線通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵元件。
下圖1所示是正交調(diào)制器的框圖,如果用于直接上變頻發(fā)射機(jī),省去了第二本振,中頻濾波器和混頻器,使發(fā)射機(jī)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡化,從而降低了成本、體積和功耗。

圖1. 正交調(diào)制器原理框圖
正交調(diào)制器的固有缺點(diǎn)在于本振泄漏和邊帶抑制(本振泄漏主要是由IQ信號的直流偏置,IQ差分信號的不平衡性以及本振和射頻的隔離指標(biāo)差等因素造成的)。理想情況下,正交調(diào)制器只是完成基帶頻譜的搬移和疊加,不會(huì)造成信號的帶外頻譜增生或是產(chǎn)生帶內(nèi)失真。正交調(diào)制器會(huì)不可避免的存在非理想因素,使得輸出信號產(chǎn)生各種失真,影響通信質(zhì)量,所以正交調(diào)制器的射頻性能需要進(jìn)行全方面的測試。
測試IQ調(diào)制器的鏡像抑制一般采用單邊帶CW信號,輸入的I信號:sinω0t,Q信號:cos?ω0t與正交本振混頻以后可得調(diào)制信號s(t),其中ω0一般為掃頻信號,從DC附近開始到幾十或幾百兆:
s(t)=sinω0t?cosωct-cosω0t? sinωc t
=sin?(ωc-ω0 )t
如果IQ調(diào)制器完全理想,只會(huì)在(ωc-ω0)處產(chǎn)生一個(gè)單邊帶信號(單邊帶CW信號),但是由于調(diào)制器的不理想性,也會(huì)在(ωc+ω0)處產(chǎn)生一個(gè)鏡像信號。與此同時(shí)在本振頻率ωc位置也會(huì)有一個(gè)信號,稱為本振泄漏。本振和鏡像信號的抑制度是IQ調(diào)制器的重要指標(biāo)。圖2是一個(gè)典型的IQ調(diào)制器的單邊帶CW輸出結(jié)果,載波為10G,IQ信號為30MHz,測試得到鏡像信號的抑制度為42dB。此時(shí)采用任意波形發(fā)生器產(chǎn)生兩路30MHz的sin和cos信號,分別提供給IQ調(diào)制器作為基帶輸入,也可以使用帶有雙源選件的矢網(wǎng)的兩個(gè)通道輸出相位差恒定為90度的CW連續(xù)波,用矢網(wǎng)的另一個(gè)好處就是,可以實(shí)現(xiàn)掃頻模式下的本振和鏡像抑制度的測試。

圖2. 頻譜儀測試矢量信號源的IQ調(diào)制鏡像抑制度
2. 測試任務(wù)
本文采用的正交調(diào)制器待測件是來自ANALOG DEVICES的ADL5371,它的工作頻率范圍:500 MHz~1.5 GHz。下圖3所示,該器件I+,I-,Q+,Q-端口分別為IQ雙路差分基帶輸入,LO為單端本振輸入(LOIN接匹配負(fù)載)?;鶐л斎胄枰?00mV的偏置電壓。射頻輸出VOUT為單端50Ω。

圖3. 正交調(diào)制器ADL5371 pin(左)和ADL5371的評估板
測試時(shí),ADL5371的評估板需要輸入0dBm、900MHz的單端本振。IQ雙路差分基帶輸入的正弦波的峰峰值為1.4V,頻率為1MHz,并且?guī)в?00mV的偏置電壓。
測試項(xiàng)目包括:輸出功率;輸出1dB壓縮點(diǎn);載波饋通;邊帶抑制;正交相位誤差;IQ幅度不平衡性;二次、三次諧波抑制;TOI;基帶到射頻幅頻響應(yīng)。
3. 測試平臺(tái)
測試平臺(tái)的核心是矢量信號源和信號與頻譜分析儀,如下圖所示。還包括直流電源和萬用表(電壓測量)。ADL5371安裝在評估板Q MOD上。矢量信號源通常配備了差分IQ輸出,可以將基帶IQ以差分信號的形式從后面板的四個(gè)BNC接頭輸出。

圖4. 正交調(diào)制器測試平臺(tái)
4. 測試結(jié)果
4.1 信號源基本設(shè)置
4.2~4.4的測試項(xiàng)目中信號源設(shè)置如下圖所示,基帶產(chǎn)生1MHz的正弦波,基帶IQ輸出采用差分模式,輸出電壓峰值為0.7V,IQ端口偏置電壓500mV。

圖5. 信號源SMU200A基本設(shè)置
4.2 輸出功率
從圖6的標(biāo)注M1看出,輸出功率7.86dBm

圖6. 輸出功率測試結(jié)果
4.3 本振泄漏和邊帶抑制、二次諧波和三次諧波
從圖7中D3,D2看出,邊帶抑制-51.5dBc,本振泄漏-57dBc
從圖7中D4,D1看出,二次諧波抑制度為-72dB,三次諧波抑制度為-53dB。

圖7. 輸出功率測試結(jié)果本振泄漏和邊帶抑制、二次諧波和三次諧波測量結(jié)果
4.4 1dB壓縮點(diǎn)
按1dB的步進(jìn)增大差分IQ輸出的電壓,在頻譜儀上看到輸出功率的增加值小于1dB時(shí)就測出了1dB壓縮點(diǎn),從下圖8中看出,輸出壓縮點(diǎn)為13.8dBm,在信號源上讀取對應(yīng)的輸入IQ功率為1.567V。

圖8. 1dB壓縮點(diǎn)測量結(jié)果
4.5 IQ幅度不平衡性和正交相位誤差
信號源產(chǎn)生1M符號速率的QPSK,IQ輸出的設(shè)置與前面的測試項(xiàng)目相同。使用頻譜儀的矢量信號分析(VSA)解調(diào),下圖9測試結(jié)果顯示正交相位誤差為0.08度,IQ幅度不平衡性為0.04dB。

圖9. IQ不理想特性測量結(jié)果
4.6 TOI
信號源標(biāo)配的Multi-Carrier功能產(chǎn)生3.5MHz和4.5MHz的雙音IQ信號,IQ輸出的設(shè)置與前面的測試項(xiàng)目相同,調(diào)整IQ輸入電壓直到雙音信號輸出功率到1.6dBm。利用頻譜儀自帶的TOI功能測得TOI為27.7dBm。

圖10. TOI測量結(jié)果
4.7 基帶到射頻幅頻響應(yīng)
進(jìn)行幅頻響應(yīng)測試需要用計(jì)算機(jī)程控信號源步進(jìn)改變基帶頻偏,頻譜儀的測量跡線采用最大保持功能。從圖11看出,從900MHz到940MHz,該正交調(diào)制器評估板的幅頻響應(yīng)最大值7.8dBm,最小值7.1dBm。需要特別注意的是,上述的幅頻響應(yīng)測量結(jié)果是對ADL5371評估板的測量結(jié)果,如果要得到ADL5371芯片的1dB和0.1dB帶寬,還需對評估板電路的電路特性進(jìn)行校準(zhǔn)并修正。


圖11. 幅頻響應(yīng)測量結(jié)果,采用SMU200A測量(上)與AFQ100B測量(下)