如何測量晶體管開關(guān)時(shí)間？如何測量晶體三極管？

在這篇文章中，小編將為大家?guī)砭w三極管的相關(guān)報(bào)道。如果你對本文即將要講解的內(nèi)容存在一定興趣，不妨繼續(xù)往下閱讀哦。

一、如何測量晶體管開關(guān)時(shí)間

晶體三極管的開關(guān)時(shí)間可以分為以下四種：

①延遲時(shí)間（td），是指從有基極電流開始到UCE降到其截止?fàn)顟B(tài)時(shí)對應(yīng)的值的90%的時(shí)間間隔。它產(chǎn)生的原因是基極電流向發(fā)射結(jié)電容充電需要一個(gè)過程，發(fā)射結(jié)正向偏置電壓需要逐步建立。

②管壓降下降時(shí)間（tr），是指UCE從其截止?fàn)顟B(tài)時(shí)對應(yīng)的值的90%降到10%所需的時(shí)間。它產(chǎn)生的原因是積累基區(qū)載流子需要一定的時(shí)間。

③存儲時(shí)間（tstg），是指從基極電流反向時(shí)刻開始到UCE為其截止?fàn)顟B(tài)時(shí)對應(yīng)的值的10%的時(shí)間間隔。它產(chǎn)生的原因是基區(qū)過剩存儲電荷抽走需要一定的時(shí)間。過剩存儲電荷的多少取決于飽和深度，飽和深度越深，過剩存儲電荷越多，存儲時(shí)間值越大。

④管壓降上升時(shí)間（tf），是指UCE從其截止?fàn)顟B(tài)時(shí)對應(yīng)的值的10%上升到90%所需的時(shí)間。它產(chǎn)生的原因是基區(qū)電荷的繼續(xù)抽走和管內(nèi)載流子復(fù)合需要一定的時(shí)間。在這四個(gè)時(shí)間中，存儲時(shí)間tstg最長，可達(dá)微秒數(shù)量級，是影響晶體三極管開關(guān)速度的最主要因素。

晶體管開關(guān)時(shí)間的測量可以通過使用一個(gè)時(shí)間計(jì)數(shù)器來實(shí)現(xiàn)，可以通過設(shè)置一個(gè)起始時(shí)間和一個(gè)結(jié)束時(shí)間，然后計(jì)算兩者之間的時(shí)間差來測量晶體管的開關(guān)時(shí)間。

可以使用一個(gè)外部時(shí)鐘信號來控制時(shí)間計(jì)數(shù)器，從而可以精確測量晶體管的開關(guān)時(shí)間。此外，還可以使用一個(gè)脈沖發(fā)生器來控制時(shí)間計(jì)數(shù)器，從而可以測量晶體管的開關(guān)時(shí)間。

晶體三極管作為一種新型的材料，被逐漸應(yīng)用于電路開關(guān)中?？梢杂糜陔娐分械姆糯?、濾波、檢測、控制和保護(hù)等應(yīng)用。它可以用于電路中的放大，可以用于濾波，可以用于檢測，可以用于控制，也可以用于保護(hù)電路。但是，在實(shí)際應(yīng)用中，我們需要采取合理、有效的措施加快晶體三極管的開關(guān)速度，以提高電路運(yùn)行的效率，從而為電路的運(yùn)行提供保障。

二、如何測量晶體三極管？

測量晶體三極管需要使用萬用表或測試儀器，具體步驟如下：

確定晶體三極管的引腳。通常情況下，晶體三極管有三個(gè)引腳，其中中間的是基極，兩邊的是發(fā)射極和集電極?？梢酝ㄟ^查找數(shù)據(jù)手冊或者標(biāo)記在晶體三極管外殼上的標(biāo)識來確定引腳。

設(shè)置測試儀器。根據(jù)晶體三極管的型號和測試要求，選擇測試儀器的測試模式和參數(shù)。通常情況下，需要設(shè)置電壓或電流的范圍、測試模式、輸入信號等參數(shù)。

連接測試儀器。將測試儀器的測試探頭分別與晶體三極管的三個(gè)引腳相連，確保連接牢固。

進(jìn)行測試。根據(jù)測試儀器的提示，進(jìn)行測試。通常情況下，可以測試晶體三極管的電流放大倍數(shù)、漏電流、輸出電壓等參數(shù)。

判斷測試結(jié)果。根據(jù)測試儀器的顯示結(jié)果和晶體三極管的性能參數(shù)，判斷晶體三極管的好壞。如果測試結(jié)果符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，可以認(rèn)為晶體三極管是正常的;如果測試結(jié)果異?；虿环弦?guī)范，可能需要更換晶體三極管或進(jìn)行進(jìn)一步檢查。

另外，需要注意以下幾點(diǎn)：

測量晶體三極管時(shí)，應(yīng)該選擇合適的測試儀器，例如數(shù)字萬用表、示波器等。不同的測試儀器可以提供不同的測試參數(shù)和測試精度。

在連接測試儀器之前，應(yīng)該確認(rèn)晶體三極管的型號和引腳排列方式，以免連接錯(cuò)誤導(dǎo)致測試失敗或損壞晶體三極管。

在進(jìn)行測試之前，應(yīng)該先檢查測試儀器的電源和連接線是否正常，以及測試儀器的測試模式和參數(shù)是否設(shè)置正確。

測量晶體三極管時(shí)，需要注意測試環(huán)境的溫度、濕度等因素對測試結(jié)果的影響。

以上便是小編此次帶來的有關(guān)晶體三極管的全部內(nèi)容，十分感謝大家的耐心閱讀，想要了解更多相關(guān)內(nèi)容，或者更多精彩內(nèi)容，請一定關(guān)注我們網(wǎng)站哦。