使用PXI模塊化儀器完成超低功耗ASIC設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)和內(nèi)存測(cè)試

PXI Express測(cè)試儀器與實(shí)驗(yàn)芯片相連接的測(cè)試平臺(tái)

"我們已使用PXI Express自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)完成多個(gè)項(xiàng)目，并獲得非常滿意的效果。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)大大減少了芯片測(cè)試的時(shí)間，而其快速、準(zhǔn)確的直流測(cè)試更是實(shí)驗(yàn)室的寶貴財(cái)富。"

- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec

The Challenge:
創(chuàng)建靈活的測(cè)試系統(tǒng)用于自動(dòng)驗(yàn)證和表征新的超低功耗半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)。

The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數(shù)字I/O設(shè)備開發(fā)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，前者讀取測(cè)試向量，后者產(chǎn)生和接收數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，并同時(shí)以很高的精度測(cè)量芯片設(shè)計(jì)的直流損耗。