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[導(dǎo)讀]連接/參考器件ADF4351 集成VCO的小數(shù)N分頻PLL ICADL5385:寬帶發(fā)射調(diào)制器ADP150:低噪聲3.3 V LDOADP3334:低噪聲可調(diào)LDO評估和設(shè)計支持電路評估板ADF4351評估板(EVAL-ADF4351EB1Z)ADL5385評估板(ADL5385-EVALZ)設(shè)計

連接/參考器件

ADF4351 集成VCO的小數(shù)N分頻PLL IC

ADL5385:寬帶發(fā)射調(diào)制器

ADP150:低噪聲3.3 V LDO

ADP3334:低噪聲可調(diào)LDO

評估和設(shè)計支持

電路評估板

ADF4351評估板(EVAL-ADF4351EB1Z)

ADL5385評估板(ADL5385-EVALZ)

設(shè)計和集成文件

原理圖、布局文件、物料清單

電路功能與優(yōu)勢

本電路為寬帶直接變頻發(fā)射機(jī)模擬部分的完整實施方案(模擬基帶輸入、RF輸出)。通過使用鎖相環(huán)(PLL)和寬帶集成電壓控制振蕩器(VCO),本電路支持30 MHz至2.2 GHz范圍內(nèi)的RF頻率。與使用一分頻本地振蕩器(LO)級的調(diào)制器不同(如CN-0285中所述),本電路無需進(jìn)行LO的諧波濾波。

獲得最佳性能的唯一要求,就是以差分方式驅(qū)動調(diào)制器的LO輸入。ADF4351可提供差分RF輸出,因此極其適用于本電路。PLL轉(zhuǎn)調(diào)制器接口適用于所有集成2XLO分相器的I/Q調(diào)制器和I/Q解調(diào)器。低噪聲LDO確保電源管理方案對相位噪聲和誤差矢量幅度(EVM)沒有不利影響。這種器件組合可以提供30 MHz至2.2 GHz頻率范圍內(nèi)業(yè)界領(lǐng)先的直接變頻發(fā)射機(jī)性能。對于2.2 GHz以上的頻率,則推薦使用一分頻調(diào)制器,如CN-0285所述。

圖1. 直接變頻發(fā)射機(jī)(原理示意圖:未顯示所有連接和去耦)

電路描述

圖1所示電路使用完全集成的小數(shù)N分頻PLL IC ADF4351和寬帶發(fā)射調(diào)制器ADL5385。ADF4351向發(fā)射正交調(diào)制器ADL5385提供本振(LO頻率為調(diào)制器RF輸出頻率的兩倍)信號,后者將模擬I/Q信號上變頻為RF信號。兩個器件共同提供寬帶基帶I/Q至RF發(fā)射解決方案。

ADF4351采用超低噪聲3.3 V ADP150調(diào)節(jié)器供電,以實現(xiàn)最佳LO相位噪聲性能。ADL5385則采用5 V ADP3334 LDO供電。ADP150 LDO的輸出電壓噪聲僅為9 μV rms(10 Hz至100 kHz積分),有助于優(yōu)化VCO相位噪聲并減少VCO推壓的影響(等效于電源抑制)。有關(guān)使用ADP150 LDO對ADF4351供電的更多詳情,請參見CN-0147。

ADL5385采用二分頻模塊產(chǎn)生正交LO信號。因此,正交精度取決于輸入LO信號的占空比精度(以及內(nèi)部分頻器觸發(fā)器的匹配)。上升和下降時間的任何不平衡都會導(dǎo)致偶數(shù)階諧波出現(xiàn),影響ADF4351 RF的輸出。當(dāng)以差分形式驅(qū)動調(diào)制器LO輸入時,可以消除偶數(shù)階諧波,改善總體正交產(chǎn)生性能。(詳見“寬帶ADC前端設(shè)計考慮:何時使用雙變壓器配置。”作者:Rob Reeder和Ramya Ramachandran,模擬對話,40-07)

由于邊帶抑制性能取決于調(diào)制器的正交精度,相比單端方式,以差分方式驅(qū)動LO輸入端口能獲得更佳的邊帶抑制。比起大部分集成VCO的競爭型PLL器件所采用的單端輸出,ADF4351可提供差分RF輸出。

ADF4351輸出匹配包括ZBIAS上拉電阻,電源節(jié)點的去耦電容也起到一定的作用。為實現(xiàn)寬帶匹配,建議使用阻性負(fù)載(ZBIAS = 50 Ω),或者將一個阻性負(fù)載與ZBIAS的電抗性負(fù)載并聯(lián)。后者提供的輸出功率稍高,具體取決于所選的電感。對于1 GHz以下的LO工作頻率,則使用數(shù)值為19 nH或更高的電感。利用ZBIAS = 50 Ω可得出本電路的測量結(jié)果;輸出功率設(shè)置為5 dBm。使用50 Ω電阻時,此設(shè)置在全頻段范圍內(nèi)的每輸出約為0 dBm;而使用差分輸入時為3 dBm。ADL5385 LO的輸入驅(qū)動電平規(guī)格為−10 dBm至+5 dBm;因此,它能夠降低ADF4351的輸出功率,節(jié)省功耗。

邊帶抑制性能與RF輸出頻率的掃描關(guān)系圖如圖2所示。在該掃描圖中,測試條件如下:

· 基帶I/Q幅度 = 1.4 V p-p差分正弦波與500 mV直流偏置正交

· 基帶I/Q頻率(fBB) = 1 MHz

· LO = 2 × RFOUT

測試設(shè)置的簡化框圖如圖3所示。由于標(biāo)準(zhǔn)ADL5385板不支持差分LO輸入驅(qū)動,因此測試中使用了修改后的ADL5385評估板。

圖2. 邊帶抑制,RFOUT從30 MHz掃描至2200 MHz

圖3. 測量邊帶抑制的測試設(shè)置(原理示意圖)

相比數(shù)據(jù)手冊測量中利用低噪聲RF信號發(fā)生器驅(qū)動ADL5385,本電路獲得了類似的(甚至更佳的)邊帶抑制性能。利用ADF4351的差分RF輸出可消除偶數(shù)階諧波,并提升調(diào)制器的正交精度。這會影響邊帶抑制性能和EVM。對圖1所示電路的測量表明,該電路的單載波W-CDMA復(fù)合EVM優(yōu)于2%。因此,該電路為30 MHz至2.2 GHz的頻率提供了低EVM寬帶解決方案。對于2.2 GHz以上的頻率,可使用一分頻調(diào)制器模塊,如CN-0285所述。

常見變化

本文所述PLL轉(zhuǎn)調(diào)制器接口適用于所有集成2XLO分相器的I/Q調(diào)制器。它還適用于基于2XLO的I/Q解調(diào)器,如ADL5387。

電路評估與測試

CN-0311使用EVAL-ADF4351EB1Z和ADL5385-EVALZ評估所述電路,能夠快速設(shè)置并進(jìn)行評估。EVAL-ADF4351EB1Z使用評估板附帶光盤中的標(biāo)準(zhǔn)ADF4351編程軟件。

設(shè)備要求

需要以下設(shè)備:

· 帶USB端口的Windows® XP、Vista或Windows 7 PC

· EVAL-ADF4351EB1Z評估板

· ADL5385-EVALZ評估板,

· ADF4351編程軟件

· 電源 (5 V, 500 mA)

· I/Q信號源,如Rohde & Schwarz AMIQ

· 頻譜分析儀

另外,可參考針對EVAL-ADF4351EB1Z評估板的UG-435用戶指南、ADF4351數(shù)據(jù)手冊和ADL5385數(shù)據(jù)手冊。

開始使用測試設(shè)置的電路描述、原理圖和框圖詳細(xì)信息參見CN-0311(見圖1和圖3)。UG-435用戶指南詳細(xì)說明了EVAL-ADF4351EB1Z評估軟件的安裝和使用。UG-435還包含電路板設(shè)置說明和電路板原理圖、布局和物料清單。ADL5385數(shù)據(jù)手冊中含有ADL5385-EVALZ電路板原理圖、框圖、物料清單、布局和組裝信息。相關(guān)器件信息,請參考ADF4351數(shù)據(jù)手冊和ADL5385數(shù)據(jù)手冊。

功能框圖

本文所述測試設(shè)置的功能框圖見圖3。

設(shè)置和測試

完成設(shè)備設(shè)置后,使用標(biāo)準(zhǔn)RF測試方法測量電路的邊帶抑制性能。

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