數(shù)字隔離器高壓可靠性測量

工藝流程和設備的詳細展示用于表征我們數(shù)字隔離器的長期可靠性，以及他們?nèi)绾卧陉P鍵的安全能力方面超越光電耦合器。對于初次使用，設計人員可以在現(xiàn)有電路中使用引腳兼容的基于CMOS的隔離器替換光電耦合器，該基于CMOS的兼容隔離器看起來就像一個光電耦合器，但是與光電耦合器相比性能顯著提升。有來自光電耦合器的領先供應商聲稱我們的器件與老的光電耦合器產(chǎn)品相比在隔離耐壓能力方面不夠好。作為回應，該視頻將幫助你理解如何測量隔離可靠性，以及為什么Silicon Labs隔離器的隔離完整性不僅不用擔心，而且事實上，它應成為所有隔離器產(chǎn)品向往的標桿。

詳情請看視頻，地址為：http://bbs.21ic.com/icview-550370-1-1.html

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