使用示波器進(jìn)行EMI診斷

 羅德與施瓦茨公司推出的RTO數(shù)字示波器可以幫助開發(fā)工程師進(jìn)行電子設(shè)計(jì)時(shí)在時(shí)域和頻域來分析EMI問題，并且能夠幫助定位EMI的產(chǎn)生原因。RTO數(shù)字示波器具備極低的輸入噪聲，在0-4GHz全帶寬范圍內(nèi)，靈敏度可以達(dá)到1mv/div。RTO實(shí)時(shí)FFT頻譜分析能力，配合近場探頭分析診斷EMI問題。

EMI診斷的關(guān)鍵是FFT技術(shù)。傳統(tǒng)示波器的FFT功能，在頻域進(jìn)行參數(shù)設(shè)置很困難，并且頻譜分析需要很長的時(shí)間。由于R&S RTO示波器的FFT操作界面是基于頻譜分析儀的，因此用戶可以像使用頻譜分析儀一樣，直接設(shè)置參數(shù)，包括起始頻率，截止頻率，帶寬分辨率和探測器類型。

強(qiáng)大的FFT技術(shù)配合RTO示波器的大存儲(chǔ)深度，使得用戶可以獨(dú)立設(shè)置時(shí)域和頻域參數(shù)，靈活的在時(shí)域和頻域進(jìn)行分析。這些功能使得用戶可以盡快發(fā)現(xiàn)輻射干擾源。

R&S RTO示波器使用Overlap FFT進(jìn)行頻域分析。重疊FFT技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)對雜散輻射的高靈敏度，能夠捕獲到偶發(fā)雜散頻點(diǎn)。示波器首先將被捕獲的時(shí)域信號分割成若干個(gè)時(shí)間段，然后分別進(jìn)行FFT計(jì)算得到每一個(gè)時(shí)間段的頻譜，這樣能在頻譜中捕獲到低能量的偶發(fā)雜散信號。

然后，對出現(xiàn)頻率不同的信號標(biāo)注以不同的顏色，所有時(shí)間段FFT分析頻譜組合成完整的頻譜。

輻射與偶發(fā)的輻射會(huì)以標(biāo)注不同的顏色進(jìn)行區(qū)分。使用不同顏色標(biāo)示技術(shù)的頻譜分析能夠完美的展示出EMI輻射出現(xiàn)的類型和頻率。

加窗FFT技術(shù)使用戶可以通過在被捕獲的信號上自定義一個(gè)時(shí)間窗口，僅對時(shí)間窗口內(nèi)的信號進(jìn)行FFT分析，并且通過滑動(dòng)這個(gè)窗口，分析出每一段時(shí)域信號與頻譜的對應(yīng)關(guān)系。例如，可以使用該技術(shù)分析由于開關(guān)電源的晶體管過沖導(dǎo)致的EMI問題。確認(rèn)問題點(diǎn)之后，用戶可以迅速對整改后的效果進(jìn)行驗(yàn)證。

在分析雜散的輻射問題時(shí)，模板工具也非常有效。用戶在頻域定義模板，并對違規(guī)信號做相應(yīng)的設(shè)置，這樣就可以準(zhǔn)確地判斷是哪些信號造成了頻譜違規(guī)。甚至對已經(jīng)捕獲的信號，用戶也可以調(diào)整FFT參數(shù)，例如加窗的大小以及頻率分辨率等。如此強(qiáng)大的功能使用戶可以對很難捕獲到的EMI輻射進(jìn)行仔細(xì)的分析。

R&S RTO示波器憑借其豐富的捕獲特性和分析特性，為示波器樹立了一個(gè)新的標(biāo)桿。同時(shí)，配合以豐富的附件，例如R&S HZ-15近場探頭，提供了一整套完善的EMI診斷方案。

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Fig: R&S RTO數(shù)字示波器 —— 低噪聲前端/高性能FFT鑄造出強(qiáng)大的EMI診斷工具