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[導(dǎo)讀] 1.概述 測量電工鋼片比總損耗時需要保持磁通正弦,在初級注入諧波會改變波形因數(shù),使得次級感應(yīng)電壓偏離正弦,對測量結(jié)果產(chǎn)生影響,國標(biāo)中介紹了在波形失真的情況按照波形因數(shù)修正比總損耗測量值的方

1.概述
測量電工鋼片比總損耗時需要保持磁通正弦,在初級注入諧波會改變波形因數(shù),使得次級感應(yīng)電壓偏離正弦,對測量結(jié)果產(chǎn)生影響,國標(biāo)中介紹了在波形失真的情況按照波形因數(shù)修正比總損耗測量值的方法,然而,在諧波條件下測試時,波形因數(shù)不僅與注入的諧波量有關(guān),還與注入諧波的初始相角有關(guān),這兩者都會對波形因數(shù)產(chǎn)生影響,本文通過測量不同諧波條件下的比總損耗,探討了諧波對愛波斯坦方圈法測量結(jié)果的影響,證實了采用國標(biāo)中的修正關(guān)系并不能得到理想的結(jié)果,對于在諧波條件下測量比總損耗具有一定的指導(dǎo)意義。


2.原理
2.1數(shù)字法測量愛波斯坦方圈的比總損耗
采用數(shù)字法測量愛波斯坦方圈比總損耗的原理圖如圖(1)所示,其中T為愛波斯坦方圈,M為空氣磁通補償線圈,R為勵磁電流采樣電阻,U為勵磁電源。兩路AD分別轉(zhuǎn)換勵磁電流和次級感應(yīng)電壓。在一個周期內(nèi),進(jìn)行N點等間隔采樣,得到電壓和電流的兩組數(shù)據(jù)Uk、Ik, k=1…N則總損耗P如式(1)所示:


圖(1)數(shù)字法測量愛波斯坦方圈比總損耗的原理圖

a)比總損耗的傅立葉分析
對于數(shù)字法得到的次級電壓U2(t),初級勵磁電流I(t),分別進(jìn)行傅立葉分析,可得到以下關(guān)系式:



由于:

當(dāng)M≠N時,

當(dāng)M=N時


因此:

由上式(7)可以看出,總損耗為各次諧波損耗之和。


b)波形因數(shù)修正
按照國標(biāo)要求,需要保證波形系數(shù)在1.111±1%范圍內(nèi),在實際測量中,這一條件可以采用模擬或者數(shù)字反饋技術(shù)來實現(xiàn),然而,當(dāng)測量接近飽和磁感時,次級感應(yīng)電壓波形偏離正弦,很難保證波形因數(shù)在此范圍內(nèi),為此,國標(biāo)中介紹了依據(jù)波形因數(shù)的比總損耗修正方法,這種修正方法將比總損耗分為磁滯損耗和渦流損耗,其中磁滯損耗與波形因數(shù)無關(guān),渦流損耗與波形因數(shù)有關(guān),由于可以通過改變頻率的辦法確定這兩種損耗在比總損耗的比例,最終可以得到僅依賴于波形因數(shù)的修正關(guān)系,如式(8)所示:

式中:
K:波形因數(shù),為次級感應(yīng)電壓的有效值和平均值的比值;
Ps:試樣的比總損耗,單位為瓦特每千克(W/kg);
Pˊs:波形失真時比總損耗的修正值,單位為瓦特每千克(W/kg);
e:渦流損耗在比總損耗中占得比例;
h:磁滯損耗在比總損耗中占得比例,其值為(1-e)。


3.實驗方法
依據(jù)原理1中介紹的方法,采用長沙天恒測控技術(shù)有限公司生產(chǎn)的TD8510硅鋼測量裝置及25CM愛波斯坦方圈構(gòu)成實驗裝置,樣品為馬鋼標(biāo)準(zhǔn)樣品(樣品編號為:TD-2011-0644),整個實驗裝置如照片(1)所示。

TD8510硅鋼測量裝置包括一個精密可調(diào)勵磁電源和兩個數(shù)字采集通道,通過軟件可以方便地設(shè)置勵磁電壓的諧波分量及其相角,并進(jìn)行傅立葉分析,初級磁感波形調(diào)節(jié)原理如下:

其中:
U11、U12…U1n為基波和各次諧波的幅值;
φ1、φ2…φn為基波和各次諧波的相角。
通過計算機設(shè)定各次諧波的幅值和相角,TD8510即可在基波勵磁電壓的基礎(chǔ)上添加諧波勵磁分量。
由于實際測量中主要的諧波成為為3次諧波,我們只考慮添加3次諧波的情況,為此進(jìn)行了兩組實驗考察諧波對比總損耗測量的影響,一是保持諧波相角為0,改變諧波分量的比重;二是保持諧波分量比重為5%,改變諧波相角。


4.實驗結(jié)果與分析
按照(三)中所描述的實驗裝置及實驗方法,得到了兩組數(shù)據(jù)如表(1)和表(2)所示,表(1)為保持相位角為0,改變諧波分量比重得到的實驗數(shù)據(jù)。表(2)為保持諧波分量比重為5%,改變諧波相位角得到的實驗數(shù)據(jù)。其中,波形因數(shù)、總損耗、基波工作點是TD8510測試的原始數(shù)據(jù),Pˊs為按照式(8)修正的數(shù)據(jù),基波損耗和三次諧波損耗則是按照原理(2)進(jìn)行的傅立葉分析所得數(shù)據(jù)。
a)保持相位角不變,改變諧波分量的實驗結(jié)果及分析
3次諧波百分比 波形因數(shù)K 總損耗Ps 波形因數(shù)修正Ps′ 基波損耗 三次諧波損耗 基波工作點(T) 0 1.1112 1.4985 1.4971 1.506 0.005 1.503 1% 1.1125 1.4997 1.4990 1.493 0.011 1.503 2% 1.1091 1.5056 1.5081 1.475 0.031 1.503 3% 1.1070 1.5115 1.5170 1.458 0.055 1.503 4% 1.1048 1.5183 1.5268 1.441 0.079 1.503 5% 1.1028 1.5249 1.5363 1.423 0.104 1.503


表(1)初始相位角為0,改變諧波分量比重所得測試數(shù)據(jù)列表
從上表可以看出,隨著諧波分量的增加,
l波形因數(shù)會發(fā)生變化,對于3次諧波,諧波分量達(dá)到5%時,波形因數(shù)變化仍在1.111±1%的范圍內(nèi),這是由于TD8510采用了模擬反饋的方法維持次級磁通正弦;
l總損耗Ps會增加,根據(jù)傅立葉分析,即使基波工作點不變,當(dāng)諧波功率增加時,基波損耗減小,但是基波損耗與諧波損耗的和近似等于總損耗;
l當(dāng)諧波分量為0時,其所得總損耗應(yīng)該最接近真實值,但是按照國標(biāo)給出的修正關(guān)系,諧波分量增加時,Ps變化為1.7%,修正后的Pˊs變化為2.6%,比總損耗與理想值偏差反而增大,修正效果不理想。



b)保持諧波分量為5%,改變諧波相位角的實驗結(jié)果及分析

3次諧波相角 波形因數(shù)K 總損耗Ps 波形因數(shù)修正Ps′ 基波損耗 三次諧波損耗 基波工作點(T) 0° 1.1027 1.5260 1.5374 1.424 0。。103 1.503 15° 1.0995 1.5348 1.5507 1.449 0.087 1.503 30° 1.0972 1.5417 1.5610 1.477 0.066 1.503 45° 1.0960 1.5457 1.5668 1.508 0.04 1.503 60° 1.0958 1.5472 1.5685 1.539 0.01 1.503 75° 1.0967 1.5454 1.5654 1.568 -0.021 1.503 90° 1.0988 1.5401 1.5576 1.568 -0.05 1.503
表(2)諧波分量為5%,改變諧波相位角所得實驗數(shù)據(jù)列表
上表中3次諧波分量為5%,諧波相位角從0°變化到90°:波形因數(shù)變化為1%左右,但是基波損耗變化8%,基波損耗和諧波損耗之和仍等于總損耗;隨著諧波相位角的變化,諧波功率可以為負(fù)功。
綜合上述分析,我們認(rèn)為:當(dāng)磁感非正弦,波形因數(shù)偏離1.111時,由于諧波相位角不確定,采用國標(biāo)中介紹的修正方法可能會帶來比較大的誤差。

5.展望
本文通過實驗初步探討了諧波對比總損耗測量的影響,由于諧波情況非常復(fù)雜,更多的實驗包括繼續(xù)增大諧波分量,使波形因數(shù)偏離5%或者10%、添加比3次更高次的諧波、使諧波相位角在0°~360°內(nèi)變化等。當(dāng)磁通波形失真時,特別是在諧波測試條件下,能否采用國標(biāo)中建議的修正方法來保證測量誤差需要更加全面的考察。
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