電子元器件是電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)部件,是電子產(chǎn)品能夠完成預(yù)定功能且不能再分割的電路基本單元。由于電子元器件的數(shù)量、品種眾多,因此它們的性能、可靠性等參數(shù)對整個電子產(chǎn)品的系統(tǒng)性能、可靠性、壽命周期等技術(shù)指標(biāo)的影響極大。
國內(nèi)外失效分析資料表明,有近一半的元器件失效并非由于元器件的固有可靠性不高,而是由使用者對元器件的選擇不當(dāng)或使用有誤造成的。因此,為了保證電子產(chǎn)品的可靠性,必須對電子元器件的選擇和應(yīng)用加以嚴(yán)格控制。正確、有效地選擇和使用電子元器件是提高電子產(chǎn)品可靠性的一項(xiàng)重要工作。
在電子元器件的選擇過程中,除基本的電氣參數(shù)應(yīng)滿足電路設(shè)計(jì)要求外,元器件的組裝特性也會直接影響電子產(chǎn)品(以下簡稱產(chǎn)品)組裝的工藝性。因此,設(shè)計(jì)人員選用元器件時(shí),除電氣參數(shù)外,還應(yīng)考慮元器件的安裝形式、引線的可焊性、元器件的耐熱能力、表面鍍層的耐清洗能力及元器件的可獲得性、經(jīng)濟(jì)性等要素,這些選用要素通常稱為工藝性要素。
電子元器件工藝選型目的就是:從電子元器件工藝性要素角度出發(fā),對元器件進(jìn)行選擇,確保所選用的元器件滿足所采用的工藝制程,避免DFM問題或質(zhì)量問題的出現(xiàn)。
二、電子元器件工藝選型原則
電子元器件選型應(yīng)考慮的要素很多,其中工藝性要素包括元器件包裝、元器件外觀、引腳鍍層、組裝工藝、可焊性及耐熱性等。
工藝選型時(shí)一般應(yīng)遵循以下原則。
(1)基本原則
① 普遍性原則:所選的元器件應(yīng)是被廣泛使用驗(yàn)證過的,盡量少使用冷門、偏門元器件,減小開發(fā)風(fēng)險(xiǎn)。
② 高性價(jià)比原則:在功能、性能、使用率都相近的情況下,盡量選擇價(jià)格比較低的元器件,降低成本。
③ 采購方便原則:盡量選擇容易買到、供貨周期短的元器件。
④ 持續(xù)發(fā)展原則:盡量選擇在可預(yù)見的時(shí)間內(nèi)不會停產(chǎn)的元器件,禁止選用停產(chǎn)的元器件,優(yōu)選生命周期處于成長期、成熟期的元器件。
⑤ 可替代原則:盡量選擇功能和引腳兼容芯片品牌比較多的元器件。
⑥ 向上兼容原則:盡量選擇以前老產(chǎn)品用過的元器件。
⑦ 資源節(jié)約原則:盡量充分利用元器件的全部功能和引腳。
⑧ 降額設(shè)計(jì)原則:對于需要降額設(shè)計(jì)的元器件,盡量進(jìn)行降額選型,參考標(biāo)準(zhǔn)參見GJB/Z 35—1993《元器件降額準(zhǔn)則》。
⑨ 歸一化原則:在不影響功能、可靠性的前提下,盡量壓縮元器件的品種和供應(yīng)商。
(2)便于生產(chǎn)原則
① 在滿足產(chǎn)品功能和性能的條件下,盡量選擇表面貼裝型元器件,盡量選擇間距寬和封裝復(fù)雜度低的型號,以降低生產(chǎn)難度,提高生產(chǎn)效率。
② 優(yōu)先選用密封真空包裝的型號,MSL(潮濕敏感度等級)大于2級(含)的,必須使用密封真空包裝。
③ 優(yōu)先選用卷帶包裝、托盤包裝的型號。如果是潮濕敏感等級為二級或以上的元器件,則要求盤狀塑料編帶包裝,盤狀塑料編帶必須能夠承受125℃的高溫。
④ 使用的材料要求滿足抗靜電、阻燃、防銹蝕、抗氧化等要求。
(3)可靠性原則
① 優(yōu)選質(zhì)量穩(wěn)定、可靠性高的標(biāo)準(zhǔn)元器件,不允許選用已淘汰和禁用的元器件。未經(jīng)設(shè)計(jì)定型的元器件不能在可靠性要求高的軍工產(chǎn)品中正式使用。
② 對于航天產(chǎn)品,應(yīng)盡可能選用制造工藝成熟的元器件,當(dāng)采用新品元器件時(shí),應(yīng)按規(guī)定在系列型譜或軍用電子元器件新品指南范圍中選擇。
③ 新品元器件必須經(jīng)過設(shè)計(jì)定型,方能用于航天型號試(正)樣(S或Z)階段的產(chǎn)品上。對于新選用的新品元器件,在簽訂技術(shù)協(xié)議時(shí),要做好技術(shù)交底,注意選擇新品研制執(zhí)行的總規(guī)范、明確相關(guān)的質(zhì)量及可靠性要求。
④ 航天產(chǎn)品中,禁止使用材料及工藝存在固有缺陷的元器件,如鍺半導(dǎo)體器件、塑料半導(dǎo)體器件、點(diǎn)接觸二極管、半密封液體鉭電容器、0.5W(含0.5W)以下的空芯RJ電阻器等。在彈(箭)上、星上盡量減少鋁電解電容器等特殊結(jié)構(gòu)的元器件。
⑤ 元器件的質(zhì)量等級包括質(zhì)量保證等級和失效等級。選型時(shí)應(yīng)根據(jù)整機(jī)的可靠性要求和元器件保證大綱要求,選擇元器件的質(zhì)量保證等級,在保證整機(jī)可靠性的前提下,同時(shí)滿足整機(jī)經(jīng)濟(jì)性的要求。
⑥ 對于某些繼承和凍結(jié)技術(shù)狀態(tài)的軍工及航天產(chǎn)品,不能由于凍結(jié)技術(shù)狀態(tài)而長期使用技術(shù)落后、質(zhì)量保證等級低甚至存在可靠性隱患的元器件。應(yīng)在充分驗(yàn)證的前提下,積極選用技術(shù)先進(jìn)、高可靠的元器件替代技術(shù)落后、質(zhì)量保證等級低的元器件。
三、電子元器件工藝選型要求
目前,普遍使用的電子元器件從結(jié)構(gòu)上可以分為有引線電子元器件和無引線電子元器件兩種,安裝方式多為表面。貼裝、通孔插裝、壓接安裝、螺紋連接和膠接。選用元器件時(shí),應(yīng)結(jié)合產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),綜合考慮元器件的裝聯(lián)方式、布局密度、組裝廠的工藝和設(shè)備、元器件的可測試性、可更換性、可獲得性、電磁兼容性等。此外,元器件本身的封裝特點(diǎn),包括引線間距、引線可焊性、耐受溫度和壓力的能力等也是工藝選型時(shí)應(yīng)當(dāng)注意的因素。
3.1尺寸要求
元器件的尺寸要求與所選用的安裝方式和工藝能力有關(guān),同樣的元器件尺寸,在不同安裝方式與工藝能力下的可接受標(biāo)準(zhǔn)可能差距很大。
元器件尺寸的工藝選型要求主要包括以下幾個方面。
(1)設(shè)備能力對尺寸的要求
應(yīng)盡量考慮選用與組裝廠的工藝和設(shè)備相適應(yīng)的元器件。
(2)尺寸的公差要求
元器件必須在規(guī)格書中注明引腳中心距、引腳直徑(包括方形引腳的倒角直徑)、封裝體外形等尺寸的公差并符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
(3)共面度的尺寸要求
元器件焊接面(焊盤/引腳/錫珠)的共面度要求如表1所示。
表1 元器件焊接面(焊盤/引腳/錫珠)的共面度要求注:無引線陶瓷芯片載體封裝(LCCC)共面度指的是底面和焊端的共面度。
表面貼裝連接器引腳形式是“Solder Ball”和“Solder Charge”時(shí)只可接受0.12mm的共面度。
對于采用焊料球或焊料柱作為引腳的柵格陣列元器件,根據(jù)其是否熔化,共面度要求略有不同,主要是因?yàn)楹附舆^程中,熔化的焊料球會發(fā)生沉降,在一定程度上可以彌補(bǔ)共面性缺陷。BGA共面度要求如表2所示。
表2 BGA共面度要求
(4)組裝工藝對尺寸的要求
元器件的尺寸精度、引線間距、與安裝孔/焊盤的匹配性對組裝工藝的影響很大,因此為提高產(chǎn)品的可制造性和焊接質(zhì)量,應(yīng)對元器件尺寸嚴(yán)格把控。
① SMT制程對元器件尺寸的要求:目前貼片機(jī)的工藝能力,原則上基本可以滿足01005級別元器件焊接,但實(shí)際選用時(shí),還應(yīng)考慮良品率的限制。
對于元器件的引腳間距選擇,SMT制程元器件選用工藝要求建議參照表3執(zhí)行。
表3 SMT制程元器件選用工藝要求
② 手工焊接工藝對元器件尺寸的要求:手工焊接相比設(shè)備焊接,操作的一致性較差,對人的依賴較高,不同技術(shù)能力的操作者對元器件選用的可接受性差異也較大,應(yīng)根據(jù)大多數(shù)人的平均能力情況進(jìn)行考慮。
手工焊接元器件選用工藝要求如表4所示,該表給出了手工焊接中存在一些組裝問題,以及為解決這些問題而對元器件選型提出的特殊要求。
表4 手工焊接元器件選用工藝要求
3.2 可焊性鍍層要求
1.鍍層選型的目的
焊接,就是用加熱的方式使兩件金屬物體結(jié)合起來。如果在焊接的過程中需要熔入第三種物質(zhì),則稱為“釬焊”,所熔入的第三種物質(zhì)稱為“焊料”。電子產(chǎn)品組裝中的“焊接”通常采用“軟釬焊”,即用錫、鉛等低熔點(diǎn)合金作為釬焊的焊料,因此俗稱“錫焊”。
從物理學(xué)的角度來看,焊接是一個“擴(kuò)散”的過程,是一個在高溫下兩個或兩個以上物體表面分子相互滲透的過程。錫焊,就是讓熔化的焊料滲透到兩個被焊物體(如元器件引腳與印制電路板焊盤)的表面分子中,然后冷凝而使之結(jié)合。
從焊接機(jī)理可以看出,要獲得良好的焊接效果,需要具備以下五個基本條件。
① 被焊金屬材料必須具有可焊性;
② 被焊金屬表面應(yīng)潔凈;
③ 正確選用助焊劑;
④ 正確選用焊料;
⑤ 控制好焊接溫度和時(shí)間。
在上述五個基本條件中,后四個條件可以通過優(yōu)化工藝予以滿足,而可焊性作為金屬材料的固有屬性一經(jīng)選定就被認(rèn)為是不可改變的,因此,為獲得良好的焊接效果,在元器件選型時(shí),要注意鍍層的選用。
可焊性在IPC標(biāo)準(zhǔn)中的定義是“金屬被焊料潤濕的能力”。而潤濕的廣義定義為:在基材上形成一層相對均勻、平滑、連續(xù)附著的焊料薄膜。這種潤濕是通過在規(guī)定的助焊劑和溫度條件下,測定熔融焊料在其上的實(shí)際潤濕面積和潤濕的最小時(shí)間來評估的。圖1為焊料在母材上潤濕情況示意圖,潤濕程度可以大致分為潤濕良好、部分潤濕和不潤濕三種情況,如圖1所示。
圖1 焊料在母材上潤濕情況示意圖
可焊性的評估主要看以下三個方面的內(nèi)容。
① 熔融焊料對基體金屬的潤濕性;
② 焊料和基體金屬的結(jié)合性;
③ 結(jié)合部位的可靠性。
對可焊性的測試,國際上各大標(biāo)準(zhǔn)組織如IEC、IPC、DIN、JIS等推薦了各種方法,但是從試驗(yàn)的重復(fù)性和結(jié)果的易于解讀性來衡量,潤濕平衡法(Wetting Balance)是目前公認(rèn)的進(jìn)行定性和定量分析的可焊性測試方法。
潤濕平衡法又叫表面張力法,是利用專用測量裝置將試件從一垂直安裝的高靈敏度的力學(xué)傳感器上懸吊下來,以規(guī)定的速度浸漬到規(guī)定溫度的熔融焊料槽中,當(dāng)試件底部的焊端浸漬至規(guī)定的深度時(shí),作用于試件上的浮力和表面張力在垂直方向上的合力即為潤濕力,使用該潤濕力與時(shí)間的關(guān)系來定量表征試件的可焊性。潤濕平衡法測量裝置示意圖如圖2所示。
圖2 潤濕平衡法測量裝置示意圖
通過可焊性測試,可以定量地評估電子元器件鍍層的可焊性,大幅消除焊接缺陷,保證焊接可靠性,降低產(chǎn)品的返修率,提高生產(chǎn)效率、降低制造成本、提高產(chǎn)品質(zhì)量??梢姡瑢τ谠骷附佣?,引腳的可焊性與焊接的可靠性之間有著密切的關(guān)系,只有選用具有良好可焊性鍍層引腳的元器件,才能在合適的焊料、助焊劑、焊接條件下獲得可靠的焊接。因此,對電子元器件的可焊性鍍層進(jìn)行工藝選型十分必要。
2.電子元器件常用可焊性鍍層介紹
焊接過程是熔化的焊料和被焊接基體金屬結(jié)晶組織之間通過合金反應(yīng),將金屬和金屬結(jié)合在一起的過程。許多單金屬或合金均可以和SnPb、SnAgCu等發(fā)生冶金反應(yīng)生成IMC,從理論上講,它們均可以作為元器件引腳的可焊性鍍層。
實(shí)際應(yīng)用中,可焊性鍍層可分為以下三類。
① 可熔鍍層:焊接過程中,鍍層金屬熔化,如純Sn鍍層或SnPb、SnAgCu、SnCu、SnBi等Sn基鍍層等。
② 可溶鍍層:焊接過程中,鍍層金屬不熔化,但金屬鍍層可以溶解于焊料合金中,如Au、Ag、Cu、Pd等。
③ 不熔也不溶解鍍層:焊接過程中,鍍層既不熔化也不溶解于焊料中,如Ni、Fe、Sn-Ni等鍍層。
表5 電子元器件引腳常用的鍍層類型及特點(diǎn)
3.可焊性鍍層選用要求
(1)鍍層外觀要求
要求引腳表面鍍層外觀清潔,鍍層覆蓋均勻飽滿,無任何可見污染物和銹蝕、裂紋、露底、黑斑、針孔、劃痕、燒焦、剝落、變色等缺陷。
(2)鍍層的材料及厚度要求
元器件供應(yīng)商應(yīng)提供元器件引腳/端子表面鍍層說明和相關(guān)測試報(bào)告。
有鉛元器件鍍層要求如表6所示。
表6 有鉛元器件鍍層要求
注:Ag焊料一般不推薦使用,如果必須選用,則應(yīng)采用真空包裝,且使用含銀焊料;AgPt在貼片電阻、電容元器件中禁止使用。
無鉛元器件鍍層要求如表7所示。
表7無鉛元器件鍍層要求
(3)可焊性要求
通孔插裝元器件,其引出端的可焊性應(yīng)符合GB 2423.28和GB 2423.32要求。表面貼裝元器件的引線或電極的可焊性鍍層如果為SnPb合金,其鍍層厚度為5~7μm,鍍層中錫含量應(yīng)在60%~63%,片式元器件電極表面上的缺陷面積應(yīng)小于電極總面積的5%。
3.3 耐熱性能要求
1.溫度對電子元器件的影響
數(shù)據(jù)表明,電子元器件的故障率隨溫度的升高呈指數(shù)增加,而電子產(chǎn)品的工作性能和可靠性則與溫度的變化成反比。為了提高電子產(chǎn)品的可靠性,合理的熱設(shè)計(jì)是必不可少的。在合理的熱設(shè)計(jì)中,除散熱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)外,選用耐熱性能良好的電子元器件也是十分關(guān)鍵的。電子元器件的耐熱性能包括耐工作溫度和耐焊接溫度兩個方面。
① 溫度對真空元器件的影響。
過高的溫度對真空元器件玻璃殼和內(nèi)部結(jié)構(gòu)均有不良的影響。溫度過高會使玻璃殼因熱應(yīng)力而損壞,同時(shí)也能使管內(nèi)的氣體電離,電離后的離子將轟擊陰極,破壞其鍍層,導(dǎo)致發(fā)射率下降,加速老化,縮短其工作壽命。因此,真空元器件的玻璃殼溫度不得超過150~200℃。
② 溫度對功率器件的影響。
功率器件的結(jié)溫是由功率器件的耗散功率、環(huán)境溫度及散熱情況決定的,而功率器件結(jié)溫對其工作參數(shù)及可靠性有很大的影響:
●功率器件的電流放大倍數(shù)隨結(jié)溫的升高而增大,這將引起工作點(diǎn)的漂移,增益不穩(wěn)定,可能造成多級放大器自激或振蕩器頻率不穩(wěn)定等不良后果。
●當(dāng)功率器件的結(jié)溫升高時(shí),會使穿透電流和電流放大倍數(shù)迅速增加,集電極電流的增大促使結(jié)溫進(jìn)一步升高,而結(jié)溫升高又使電流進(jìn)一步增大,最終導(dǎo)致元器件被“熱擊穿”。為了防止熱擊穿,功率器件的結(jié)溫不宜過高。
③ 溫度對電阻的影響。
溫度的升高會導(dǎo)致電阻的使用功率下降。如RTX型碳膜電阻,當(dāng)環(huán)境溫度由40℃增至100℃時(shí),允許使用的實(shí)際功率將降為標(biāo)稱值的20%;又如RJ-0.125W金屬電阻,當(dāng)環(huán)境溫度由70℃增至125℃時(shí),允許使用功率為標(biāo)稱值的20%。
此外,溫度的變化對阻值大小有一定的影響,溫度每升高或降低10℃,電阻大約要變化1%。
④ 溫度對電容器的影響。
溫度對電容器的影響主要體現(xiàn)為降低其使用時(shí)間。通常認(rèn)為,當(dāng)在超過規(guī)定使用溫度下工作時(shí),每提高10℃,使用時(shí)間就要減少一半。此外,溫度的變化也會引起電容、功率因素等參數(shù)的變化。因此,對各種電容器的允許工作溫度也進(jìn)行了規(guī)定。
⑤ 溫度對電感類器件(變壓器、扼流圈)的影響。
溫度對變壓器、扼流圈等元器件的影響:除減少其使用時(shí)間外,還會使材料的絕緣性能下降。一般變壓器、扼流圈的允許溫度要低于90℃。
2.電子元器件工作溫度的選用要求
對于元器件的工作溫度選擇,一般只需根據(jù)產(chǎn)品本身特點(diǎn)確定元器件的質(zhì)量等級即可。不同質(zhì)量等級的電子元器件的工作溫度范圍是:
① 商業(yè)級元器件的工作溫度范圍是0~+70℃。
② 工業(yè)級元器件的工作溫度范圍是?40~+85℃。
③ 軍品級元器件的工作溫度范圍是?55~+150℃。
④ 汽車工業(yè)級元器件的工作溫度范圍是?40~+125℃。
3.電子元器件耐焊接溫度的選用要求
(1)焊接工藝對元器件耐溫的要求
電子元器件的耐熱性能還包括耐焊接溫度。而對于元器件耐焊接溫度的要求,則需根據(jù)產(chǎn)品的組裝工藝來確定,因?yàn)椴煌暮附庸に噷υ骷哪蜔崮芰σ笫遣煌摹?/span>
不同焊接工藝對元器件的耐熱能力要求如下:
① 熱風(fēng)回流焊工藝:要求能在215~230℃溫度下,承受至少10個焊接周期的加熱。
② 波峰焊工藝:要求能在260℃溫度下持續(xù)10s。
③ 氣相焊工藝:要求能在215℃下溫度持續(xù)60s。
④ 紅外回流焊工藝:要求能在230℃溫度下持續(xù)20s。
因此在選用元器件時(shí),應(yīng)遵循與生產(chǎn)單位焊接設(shè)備相適應(yīng)的原則。
(2)元器件封裝及內(nèi)部連接工藝要求
元器件耐高溫性能,除與封裝材料有關(guān)外,還與其內(nèi)部連接方式有關(guān)。IC的內(nèi)部連接方法有金絲球焊、超聲壓焊,還有倒裝焊等方法,特別是BGA、CSP和組合式復(fù)合元器件、模塊等新型元器件,其內(nèi)部連接用材料通常采用表面組裝用的相同焊料,連接工藝也是回流焊工藝,因此也要符合回流焊鉛焊接的要求。
(3)組裝工藝對元器件的特殊耐溫要求
在電子元器件選用過程中,由于工藝制程原因,對元器件有特殊溫度要求時(shí),工藝人員應(yīng)在選型之初提前與廠家溝通,達(dá)成一致意見,并將協(xié)商結(jié)果加入規(guī)格書。
設(shè)備焊接條件對元器件的耐溫要求如表8所示。
表8 設(shè)備焊接條件對元器件的耐溫要求
注:
? 數(shù)據(jù)來源:IPC/JEDEC J-STD-020D;
? 所有封裝元器件能承受5次焊接者為優(yōu)選元器件;
? 所有支持波峰焊接的元器件必須能支持2次正常波峰焊接;
? 所有支持回流焊接的元器件必須能支持3次正常波峰焊接;
? 元器件支持手工返修的能力為:350℃,持續(xù)5s。
手工焊接對元器件的耐溫要求如表9所示(僅供參考)。
表9 手工焊接對元器件的耐溫要求
注:實(shí)際焊接過程中,由于焊盤設(shè)計(jì)和印制板散熱情況的不同,參數(shù)略有調(diào)整。
3.4 耐潮濕性能要求
1.濕度對電子元器件的危害
據(jù)統(tǒng)計(jì),全球每年有1/4以上的工業(yè)制造不良品與潮濕的危害有關(guān)。對于電子工業(yè),潮濕的危害已經(jīng)成為影響產(chǎn)品質(zhì)量的主要因素之一。電子元器件看起來是密封和防潮的,但實(shí)際情況恰恰相反,隨著時(shí)間的推移,元器件會不斷吸收空氣中的潮氣,吸潮程度與構(gòu)成元器件的材料成分和制造工藝、運(yùn)輸及使用條件密切相關(guān)。大氣中的水分會通過擴(kuò)散滲透到濕度敏感元器件的封裝材料內(nèi)部。
在組裝過程中,元器件將經(jīng)歷溫度迅速變化的過程。以回流焊為例,在回流區(qū),整個元器件要在183℃以上持續(xù)60~90s,最高溫度可能在210~235℃(SnPb共晶)。無鉛焊接的峰值會更高(245℃左右),在高溫作用下,元器件內(nèi)部的水分會快速轉(zhuǎn)變?yōu)闊嵴羝?,氣壓的突變將?dǎo)致封裝體快速膨脹,膨脹的程度與封裝材料成分、實(shí)際吸收的濕氣量、加熱溫度、加熱速度及封裝體厚度等因素有關(guān)。當(dāng)膨脹壓力引起的變形達(dá)到一定程度后,構(gòu)成元器件的不同材料之間的配合會失去調(diào)節(jié),各種連接會產(chǎn)生不良變化,進(jìn)而導(dǎo)致元器件剝離分層或爆裂(通常稱作“爆米花”現(xiàn)象),元器件的電氣性能受到影響或破壞。
與靜電敏感器件ESD的失效一樣,大多數(shù)情況下,對于濕度敏感元器件MSD的失效,通過肉眼是很難察覺的,有時(shí)甚至在測試過程中也不能完全發(fā)現(xiàn)。這種失效會作為可靠性隱患長期存在于電子產(chǎn)品中,一旦遇到外部條件變化,隨時(shí)可能爆發(fā)。事實(shí)上,濕度因素對電子組裝生產(chǎn)直通率和產(chǎn)品可靠性的影響不亞于靜電因素和溫度因素。
為減小潮濕影響,電子產(chǎn)品的生產(chǎn)和存儲環(huán)境濕度都應(yīng)該在40%以下,有些品種還要求濕度更低。
表10給出了不同階段,潮濕對不同類型元器件的影響(推薦)。
表10 潮濕對不同類型元器件的影響(推薦)
2.濕度敏感元器件的概念和分級
濕度敏感元器件(MSD)是指因吸收空中的水汽而導(dǎo)致功能喪失或可靠性降低的元器件。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn),MSD主要指非氣密性(Non-Hermetic)SMD器件,包括塑料封裝器件、其他透水性聚合物封裝(環(huán)氧、有機(jī)硅樹脂等)器件。一般IC、芯片、電解電容、LED等都屬于非氣密性SMD器件。
J-STD-020給出了元器件潮濕敏感等級(Moisture Sensitivity Level,MSL)劃分,IPC-M190J-STD-033則針對潮濕敏感元器件(MSD)問題提出了傳輸、包裝、運(yùn)送及應(yīng)用方面的建議和要求。元器件濕度敏感等級如表11所示。
表11 元器件濕度敏感等級
表11中部分名詞含義:
① MBB:Moisture Barrier Bag,即防潮真空包裝袋,該袋同時(shí)要考慮ESD保護(hù)。
② HIC:Humidity Indicator Card,即濕度顯示卡,顯示包裝袋內(nèi)的潮濕程度,一般有若干圓圈,分別代表相對濕度10%、20%、30%等,各圓圈內(nèi)原色為藍(lán)色,當(dāng)某圓圈內(nèi)由藍(lán)色變?yōu)樽霞t色時(shí),則表明袋內(nèi)已達(dá)到該圓圈對應(yīng)的相對濕度;當(dāng)某圓圈內(nèi)再由紫紅色完全變?yōu)榈t色時(shí),則表明袋內(nèi)已超過該圓圈對應(yīng)的相對濕度。若濕度顯示超過30%,即30%的圓圈內(nèi)HIC卡顏色完全變成了淡紅色,表明生產(chǎn)前需要進(jìn)行烘烤。
③ 警告標(biāo)簽:Warning Label,即防潮包裝袋外的含MSIL(Moisture Sensitive Identification Label)符號、芯片的潮濕敏感等級(或含密封存儲條件和拆封后存放最長時(shí)間及受潮后烘烤條件)和包裝袋本身密封日期的標(biāo)簽。若標(biāo)簽上沒有注明濕度敏感等級,可以參考條形碼上的說明。
對于濕度敏感等級為2a~5a的元器件,在一盤原包裝需拆開部分使用時(shí),剩余材料必須立即做真空包裝,并貼上時(shí)間控制標(biāo)簽;打開包裝后的元器件,應(yīng)根據(jù)濕度敏感等級,在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成焊接,若打開包裝的元器件累計(jì)暴露時(shí)間超規(guī)定時(shí)間未使用,需對元器件進(jìn)行烘烤,之后才能再使用。
SMT濕度敏感元器件烘烤條件對照表如表12所示。
表12 SMT濕度敏感元器件烘烤條件對照表
3.濕度敏感元器件的選用要求
濕度敏感元器件(MSD)對SMT生產(chǎn)直通率和產(chǎn)品可靠性的影響不亞于ESD,做好濕度敏感元器件的工藝選型,對于提高電子產(chǎn)品的良品率、提高產(chǎn)品的可靠性具有重要作用。
濕度敏感元器件工藝選型的一般原則是:
① 優(yōu)選防潮等級≤4級的物料。
② 對于等級為5級、5a級和6級的物料的選用要嚴(yán)格限制,在工藝能力不能支持的情況下,禁止選用5級以上的防潮物料。
除了工藝選型的一般原則,還應(yīng)考慮物料狀態(tài)對濕度敏感等級和處理要求的影響,例如:
① 與IC托盤封裝相比,卷帶封裝可以延長元器件的暴露時(shí)間,相當(dāng)于提升了1或2個等級。
② 無鉛焊接的高溫環(huán)境則會使MSD的濕度敏感性至少下降1或2個等級。
③ 此外,實(shí)際生產(chǎn)過程中,生產(chǎn)線的頻繁切換會使許多已經(jīng)裝到貼片機(jī)上的元器件不得不拆下來。這就意味著,大量沒有用完的托盤元器件和卷帶器件暫時(shí)需要儲存起來以備后用。這些封裝在托盤和卷帶里的沒有用完的濕度敏感元器件,很可能在重返生產(chǎn)線并進(jìn)行最后的焊接以前,超過了其最大濕度容量。
3.5 防靜電性能要求
1.靜電對電子元器件的危害
靜電的基本物理特性為:吸引或排斥,與大地有電位差,會產(chǎn)生放電電流。這三種特性會對電子元器件產(chǎn)生四種影響:
① 靜電吸附灰塵、改變線路間的阻抗,影響產(chǎn)品的功能與壽命。
② 靜電放電(Electro Static Discharge,ESD)破壞,造成電子元器件損傷(或完全破壞;或仍能工作,壽命受損)。
③ 靜電放電產(chǎn)生的電磁場幅度很大(達(dá)到幾百V/m)、頻譜極寬(從幾兆Hz到幾千兆Hz),對電子產(chǎn)品造成干擾甚至損壞(電磁干擾)。
④ 靜電放電時(shí)所產(chǎn)生的電場或電流發(fā)出的熱量也會使元器件受傷(潛在損傷)。
其中,ESD是指帶電體周圍的場強(qiáng)超過周圍介質(zhì)的絕緣擊穿場強(qiáng)時(shí),因介質(zhì)產(chǎn)生電離而使帶電體上的靜電荷部分或全部消失的現(xiàn)象。靜電放電是高電位、強(qiáng)電場、瞬時(shí)大電流的過程,與此同時(shí),靜電放電會產(chǎn)生強(qiáng)烈的電磁輻射,形成電磁脈沖。ESD是引發(fā)電子元器件失效的主要因素。
隨著集成電路、MOS電路和表面貼裝元器件(SMD)的廣泛應(yīng)用和工藝技術(shù)的發(fā)展,元器件對靜電放電的敏感性增加。雖然靜電放電的能量對分立元器件的影響較小,但是對MOS器件的損害是致命性的。除致使元器件失效外,它產(chǎn)生的靜電場會造成元器件的“軟擊穿”,從而給電子產(chǎn)品造成隱患或潛在的故障,直接影響電子產(chǎn)品的質(zhì)量及可靠性。
靜電放電可造成靜電敏感元器件的功能失效和參數(shù)退化。失效的主要機(jī)理有熱二次擊穿、金屬鍍層融熔、介質(zhì)擊穿、氣弧放電、表面擊穿、體擊穿等。靜電對元器件造成的
損傷可能是永久性的,也可能是暫時(shí)性的;既可能是突發(fā)失效,也可能是潛在失效。如果元器件徹底失效,在生產(chǎn)及品質(zhì)管理中能夠及時(shí)察覺并排除,則影響較小,而如果元器件只是輕微受損,在正常測試下則不易發(fā)現(xiàn)。另外,在運(yùn)輸途中,摩擦、碰撞、接觸帶有靜電的物體也會產(chǎn)生靜電,從而導(dǎo)致元器件受損,這種潛在的和突發(fā)的失效更難預(yù)防,其損失亦難以預(yù)測。
靜電失效對電子產(chǎn)品的可靠性影響十分普遍,電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)與使用過程中必須做好靜電防護(hù)措施。對電子元器件的選用也要考慮防靜電要求。
2.靜電敏感元器件的概念和分級
靜電敏感元器件(Static Sensitive Devices,SSD)是對容易因靜電放電而引起損傷的元器件的統(tǒng)稱。為避免物料因不正當(dāng)操作而導(dǎo)致靜電損壞,需要在來料驗(yàn)收、儲存、配送、預(yù)加工、焊接、組裝過程中采用靜電防護(hù)措施。
靜電敏感等級分級如表13所示。
表13 靜電敏感等級分級
注:靜電敏感度≥16000V以上的元器件、組件被認(rèn)為是非靜電敏感產(chǎn)品。
常見靜電敏感元器件的靜電敏感等級分級,如表14所示。
表14 常見靜電敏感元器件的靜電敏感等級分級
3.靜電敏感元器件選用要求
靜電敏感元器件的選用與產(chǎn)品設(shè)計(jì)需要及工藝制程能力有關(guān),不同制造單位對靜電的控制能力不同,對電子元器件的靜電敏感等級要求也不同。
① 一般情況下,選用元器件時(shí),優(yōu)選元器件靜電敏感度等級在HBM Class 1B(500~1000 V)及以上級。
② 不推薦選用靜電敏感度HBM Class 1A(250~500 V)的靜電敏感元器件。
③ 限制選用靜電敏感度HBM Class 0(0~250 V)的靜電敏感元器件。
值得注意的是:對于所有靜電敏感元器件的使用,產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中均應(yīng)提供ESD保護(hù),其中單板組件的靜電防護(hù)能力應(yīng)>2000V,整機(jī)產(chǎn)品的靜電防護(hù)能力應(yīng)>4000 V。具體要求見《GJB 1649電子產(chǎn)品防靜電放電控制大綱》。
3.6 元器件包裝要求
1.貼片元器件的包裝要求
(1)一般片式阻容類元器件
優(yōu)選編帶包裝元器件,可選托盤包裝元器件,不推薦選用管裝和散裝元器件。
(2)IC芯片類元器件
優(yōu)選編帶包裝元器件,可選托盤包裝元器件,不推薦選用管裝和散裝元器件。
(3)存儲器類IC元器件
優(yōu)選托盤包裝元器件,不推薦管裝和編帶包裝元器件。
(4)軍品航天散料
片式表面貼裝元器件應(yīng)放入防靜電袋中,IC芯片應(yīng)放入獨(dú)立的托盤或?qū)S玫膸в袦p振防護(hù)功能的防靜電盒中。
(5)覆蓋帶
① 應(yīng)確保其密封良好,覆蓋帶不能存在任何空洞和裂紋。
② 覆蓋帶應(yīng)居于卷帶中央位置,不能發(fā)生明顯移位,嚴(yán)禁覆蓋帶因?yàn)槲恢闷苹虺叽邕^大而遮住圓形齒輪孔的任何部分。
③ 覆蓋帶應(yīng)保證自身具有足夠的抗拉強(qiáng)度,對于8mm卷帶寬度的覆蓋帶,抗拉強(qiáng)度應(yīng)不小于700g,對于12~32mm卷帶寬度的覆蓋帶,抗拉強(qiáng)度應(yīng)不小于1000g,對于44mm卷帶寬度的覆蓋帶,抗拉強(qiáng)度應(yīng)不小于1300g。
④ 覆蓋帶與卷帶應(yīng)保持合適的剝離強(qiáng)度,任何情況下覆蓋帶與卷帶的最小剝離力不能小于10g,以保證在正常的運(yùn)輸、存儲及生產(chǎn)過程中元器件不會脫離卷帶。
(6)卷帶
① 對于8mm的卷帶,最大剝離力應(yīng)小于100g,對于12~56mm的卷帶,最大剝離力應(yīng)小于130g,對于72mm及以上的卷帶,最大剝離力應(yīng)小于150g。
② 對于卷帶,圓形齒輪孔必須位于進(jìn)料方向的左邊且不能存在錯位。
③ 腔體與元器件之間應(yīng)保證合適的間隙,不能因腔體過小導(dǎo)致取料困難,也不能因腔
體過大導(dǎo)致元器件位置偏移過大或?qū)е略骷D(zhuǎn)。
④ 腔體應(yīng)具有足夠強(qiáng)度,以保證在運(yùn)輸、存儲和生產(chǎn)過程中不發(fā)生變形和破裂,進(jìn)而避免元器件引腳變形和損傷。
⑤ 圓形齒輪孔尺寸的詳細(xì)要求見EIA-418-C中的相關(guān)規(guī)定,腔體與元器件間間隙的要求為:8~12mm(0.5mm);16~200mm(1mm)。
(7)其他要求
① 覆蓋帶、載帶應(yīng)保證干凈整潔、無污染、無紙屑等多余物。
② 包裝標(biāo)識應(yīng)清晰可見,規(guī)格書中必須注明存儲條件和存儲時(shí)間。
③ 溫度敏感、濕度敏感、靜電敏感元器件應(yīng)注明等級和使用要求。
2.插裝及壓接元器件的包裝要求
① 包裝應(yīng)兼具防靜電、防撞壞、方便取用的特點(diǎn),優(yōu)選管裝或盤裝形式。
② 包裝與元器件間應(yīng)保持合理間隙,必要時(shí),采用防靜電泡棉填充,以確保元器件在包裝中不會晃動,且元器件引腳懸空。
③ 靜電敏感元器件/潮濕敏感元器件的外包裝上應(yīng)貼有靜電敏感標(biāo)識/潮濕敏感標(biāo)識。
④ 對于編帶型插裝元器件,應(yīng)確保元器件引腳全部固定在編帶上,以利于批量成型操作。
⑤ 所有外包裝不應(yīng)有嚴(yán)重的變形或壓傷痕跡,否則拒收,外包裝有輕微劃傷但內(nèi)包裝不受損時(shí)可以接收。
3.7 其他工藝選型要求
電子元器件焊接完成后,還要進(jìn)行清洗、檢驗(yàn)。對于部分高可靠產(chǎn)品,還需進(jìn)行三防涂覆和灌封、粘固操作,在選用電子元器件時(shí),也應(yīng)考慮相關(guān)要求。
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