去掉一個(gè)光耦，這顆過零檢測IC將待機(jī)功耗降了一半

時(shí)間：2020-07-20 16:25:54

關(guān)鍵字：光耦過零檢測待機(jī)功耗

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[導(dǎo)讀]近年來,隨著物聯(lián)網(wǎng)的快速發(fā)展,越來越多的白色家電中配備了Wi-Fi通信功能。由于必須始終通電以保持通信連接,而且家電制造商必須將待機(jī)功耗降低至0.5W以下,這將面臨著比以往更大的挑戰(zhàn) 。如何降低家電產(chǎn)品的待機(jī)能耗?這需要從多方面入手，其中，電機(jī)部分和電

近年來,隨著物聯(lián)網(wǎng)的快速發(fā)展,越來越多的白色家電中配備了Wi-Fi通信功能。由于必須始終通電以保持通信連接,而且家電制造商必須將待機(jī)功耗降低至0.5W以下,這將面臨著比以往更大的挑戰(zhàn) 。

如何降低家電產(chǎn)品的待機(jī)能耗?這需要從多方面入手，其中，電機(jī)部分和電源部分的待機(jī)功耗改善工作已經(jīng)到達(dá)瓶頸，另一個(gè)領(lǐng)域就是過零檢測電路。

所謂過零檢測，就是用來檢測AC(交流)波形的0V電位(過零點(diǎn))的電路(過零檢測電路)，目的是為了有效地對(duì)電機(jī)和微控制器進(jìn)行控制。在過零檢測電路中,提高過零檢測的精度,可以更有效地控制電機(jī)和微控制器。而且,在電機(jī)停止時(shí),能夠?qū)㈦妷赫猛Ｖ乖?V狀態(tài),脈沖控制也更提升了電路的安全性。

可見，過零檢測電路是白色家電中常用的一個(gè)功能電路，但傳統(tǒng)的過零檢測電路中會(huì)使用光耦器件，而光耦器件會(huì)造成待機(jī)功耗增加。

去掉一個(gè)光耦，這顆過零檢測IC將待機(jī)功耗降了一半

針對(duì)10多年來一直沒有變革的過零檢測電路，最近羅姆公司開創(chuàng)性地推出了過零檢測IC，不僅省去了光耦，降低了能耗，同時(shí)大大提升了可靠性。

去掉一個(gè)光耦，這顆過零檢測IC將待機(jī)功耗降了一半

據(jù)了解，在以往的過零檢測電路中,所使用的光耦的功耗約占整個(gè)應(yīng)用的待機(jī)功耗的1/2。羅姆新推出的過零檢測IC BM1ZxxxFJ系列由于去除了光耦，因此功耗極低,可將正常通電時(shí)的過零檢測電路的待機(jī)功耗降至0.01W。以洗衣機(jī)為例，采用傳統(tǒng)的使用光耦的過零檢測電路，方案整體的待機(jī)功耗為1.7W，而使用去除光耦的過零檢測IC后，方案整體的待機(jī)功耗降低為0.71W，降低了一半以上的功耗。

另外,在驅(qū)動(dòng)應(yīng)用時(shí),將以往使用光耦的過零檢測電路中隨AC電壓變化而波動(dòng)的延遲時(shí)間誤差降至±50μs以內(nèi)。極低的待機(jī)功耗和極小的延遲時(shí)間誤差,使得即使在各國不同的AC電源電壓下,也可高效地驅(qū)動(dòng)電機(jī),成功實(shí)現(xiàn)了以往的過零檢測電路很難實(shí)現(xiàn)的高精度微控制器驅(qū)動(dòng)。同時(shí)，由于不再需要光耦,還可以免除由光耦經(jīng)年老化所帶來的各種風(fēng)險(xiǎn),有助于提高產(chǎn)品的可靠性。

過零檢測IC BM1ZxxxFJ系列的另一優(yōu)點(diǎn)是可以隨時(shí)輕松替換原來的過零檢測電路，該系列產(chǎn)品型號(hào)豐富,可分別對(duì)應(yīng)以往的過零檢測電路中使用的電路(普通整流/倍壓整流)和波形(Pulse/Edge)，無需更改軟件即可輕松替換使用光耦的現(xiàn)有過零檢測電路。

而且，該過零檢測IC BM1ZxxxFJ系列還具有“電壓鉗位功能”,可保護(hù)后段的微控制器。因此,適用于使用以空調(diào)等為對(duì)象的高壓驅(qū)動(dòng)電機(jī)的應(yīng)用,即使出現(xiàn)異常電壓,也能夠做到對(duì)微控制器的保護(hù)。

去掉一個(gè)光耦，這顆過零檢測IC將待機(jī)功耗降了一半

高集成度的過零檢測IC BM1ZxxxFJ大大消減了所需的外圍器件，僅僅只需要7個(gè)元器件即可實(shí)現(xiàn)過零檢測功能，有助于設(shè)計(jì)的進(jìn)一步小型化。

未來，羅姆還將考慮推出過零檢測IC+AC/DC電源一體化封裝的解決方案，進(jìn)一步提高密度，縮減體積。