安森美半導體發(fā)布新的650 V碳化硅 (SiC) MOSFET
推動高能效創(chuàng)新的安森美半導體 (ON Semiconductor),發(fā)布一系列新的碳化硅 (SiC) MOSFET器件,適用于功率密度、能效和可靠性攸關(guān)的高要求應(yīng)用。設(shè)計人員用新的SiC器件取代現(xiàn)有的硅開關(guān)技術(shù),將在電動汽車(EV)車載充電器(OBC)、太陽能逆變器、服務(wù)器電源(PSU)、電信和不間斷電源(UPS)等應(yīng)用中實現(xiàn)顯著更好的性能。
安森美半導體新的車規(guī)AECQ101和工業(yè)級合格的650伏(V)SiC MOSFET基于一種新的寬禁帶材料,提供比硅更勝一籌的開關(guān)性能和更好的熱性能,因而提高系統(tǒng)級能效、功率密度,及減小電磁干擾(EMI)、系統(tǒng)尺寸和重量。
新一代SiC MOSFET采用新穎的有源單元設(shè)計,結(jié)合先進的薄晶圓技術(shù),可在650V擊穿電壓實現(xiàn)同類最佳的品質(zhì)因數(shù)Rsp(Rdson*area)。NVBG015N065SC1、NTBG015N065SC1、NVH4L015N065SC1和NTH4L015N065SC1采用D2PAK7L和To247封裝,具有市場最低的Rdson (12 mOhm)。這技術(shù)還優(yōu)化能量損失品質(zhì)因數(shù),從而優(yōu)化了汽車和工業(yè)應(yīng)用中的性能。內(nèi)置門極電阻 (Rg)為設(shè)計人員提供更大的靈活性,而無需使用外部門極電阻人為地降低器件的速度。更高的浪涌、雪崩能力和短路魯棒性都有助于增強耐用性,從而提供更高的可靠性和更長的器件使用壽命。
安森美半導體先進電源分部高級副總裁Asif Jakwani在發(fā)布新品時說:
“在現(xiàn)代電源應(yīng)用中,如電動汽車(EV)車載充電器(OBC)和可再生能源、企業(yè)計算及電信等其他應(yīng)用,高能效、可靠性和功率密度是設(shè)計人員一直面臨的挑戰(zhàn)。這些新的SiC MOSFET比同等的硅開關(guān)技術(shù)顯著提高性能,使工程師能夠滿足這些具有挑戰(zhàn)性的設(shè)計目標。增強的性能降低損耗,從而提高能效,減少熱管理需求,并降低電磁干擾(EMI)。使用這些新的SiC MOSFET的最終結(jié)果是更小、更輕、更高效和更可靠的電源方案?!?/span>
新器件均為表面貼裝,并提供行業(yè)標準封裝類型,包括TO247和D2PAK。
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