還不懂什么是磁粉檢測(cè)?教你學(xué)會(huì)磁粉檢測(cè)方法!!

檢測(cè)的重要性不言而喻，對(duì)于檢測(cè)，我們需要持以正確的態(tài)度。上篇檢測(cè)相關(guān)文章中，小編對(duì)超聲檢測(cè)技術(shù)有所闡述。為增進(jìn)大家對(duì)檢測(cè)的認(rèn)識(shí)程度，本文將對(duì)磁粉檢測(cè)、磁粉檢測(cè)方法以及磁粉檢測(cè)方法的適用范圍予以介紹。如果你對(duì)檢測(cè)技術(shù)具有興趣，不妨繼續(xù)往下閱讀哦。

一、磁粉檢測(cè)

磁粉檢測(cè)是以磁粉做顯示介質(zhì)對(duì)缺陷進(jìn)行觀察的方法。根據(jù)磁化時(shí)施加的磁粉介質(zhì)種類，檢測(cè)方法分為濕法和干法;按照工件上施加磁粉的時(shí)間，檢驗(yàn)方法分為連續(xù)法和剩磁法。

鐵磁性材料工件被磁化后，由于不連續(xù)性的存在，使工件表面和近表面的磁力線發(fā)生局部畸變 而產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，吸附施加在工件表面的磁粉，在合適的光照下形成目視可見(jiàn)的磁痕，從而顯示出不連續(xù)性的位置、大小、形狀和嚴(yán)重程度。又稱磁粉檢驗(yàn)或磁粉探傷，屬于無(wú)損檢測(cè)五大常規(guī)方法之一。

磁粉檢測(cè)只能用于檢測(cè)鐵磁性材料的表面或近表面的缺陷，由于不連續(xù)的磁痕堆集于被檢測(cè)表面上，所以能直觀地顯示出不連續(xù)的形狀、位置和尺寸，并可大致確定其性質(zhì)。

磁粉檢測(cè)的靈敏度可檢出的不連續(xù)寬度可達(dá)到0.1μm。綜合使用多種磁化方法，磁粉檢測(cè)幾乎不受工件大小和幾何形狀的影響，能檢測(cè)出工件各個(gè)方向的缺陷。

二、磁粉檢測(cè)方法

1.濕法和干法

磁粉懸浮在油、水或其他液體介質(zhì)中使用稱為濕法，它是在檢測(cè)過(guò)程中，將磁懸液均勻分布在工件表面上，利用載液的流動(dòng)和漏磁場(chǎng)對(duì)磁粉的吸引，顯示出缺陷的形狀和大小。濕法檢測(cè)中，由于磁懸液的分散作用及懸浮性能，可采用的磁粉顆粒較小。因此，它具有較高的檢測(cè)靈敏度。特別適用于檢測(cè)表面微小缺陷，例如疲勞裂紋、磨削裂紋等。濕法經(jīng)常與固定式設(shè)備配合使用，也與移動(dòng)和便攜式設(shè)備并用。用于濕法的磁懸液可以循環(huán)使用。

干法有稱干粉法，在一些特殊場(chǎng)合下，不能采用濕法進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，而采用特制的干磁粉按程序直接施加在磁化的工件上，工件的缺陷處即顯示出磁痕。干法檢測(cè)多用于大型鑄，鍛件毛坯及大型結(jié)構(gòu)件、焊接件的局部區(qū)域檢查，通常與便攜式設(shè)備配合使用。

2.連續(xù)法和剩磁法

(1)連續(xù)法 連續(xù)法又稱附件磁場(chǎng)法或現(xiàn)磁法，是在外加磁場(chǎng)作用下，將磁粉或磁懸液施加到工件上進(jìn)行磁粉探傷。對(duì)工件的觀察和評(píng)價(jià)可在外磁場(chǎng)作用下進(jìn)行，也可在中斷磁場(chǎng)后進(jìn)行。

(2)剩磁法 剩磁法是先將工件進(jìn)行磁化，然后在工件上澆浸懸液，待磁粉聚集后在進(jìn)行觀察。這是利用材料剩余磁性進(jìn)行檢測(cè)的方法，故稱為剩磁法。

磁粉探傷：用磁粉顯示的稱為磁粉探傷，因它顯示直觀、操作簡(jiǎn)單、人們樂(lè)于使用，故它是最常用的方法之一。

漏磁探傷：不用磁粉顯示的，習(xí)慣上稱為漏磁探傷，它常借助于感應(yīng)線圈、磁敏管、霍爾元件等來(lái)反映缺陷，它比磁粉探傷更衛(wèi)生，但不如前者直觀。由于磁力探傷主要用磁粉來(lái)顯示缺陷，因此，人們有時(shí)把磁粉探傷直接稱為磁力探傷，其設(shè)備稱為磁力探傷設(shè)備。

三、磁粉檢測(cè)方法的適用范圍

1適用于檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面缺陷，例如：表面和近表面間隙極窄的裂紋和目視難以看出的其他缺陷。 不適合檢測(cè)埋藏較深的內(nèi)部缺陷。

2適用于檢測(cè)鐵鎳基鐵磁性材料，例如：馬氏體不銹鋼和沉淀硬化不銹鋼材料，不適用于檢測(cè)非磁性材料，例如：奧氏體不銹鋼材料。

3適用于檢測(cè)未加工的原材料(如鋼坯)和加工的半成品、成品件及在役與使用過(guò)的工件。

4適用于檢測(cè)管材棒材板材形材和鍛鋼件鑄鋼件及焊接件。

5適用于檢測(cè)工件表面和近表面的延伸方向與磁力線方向盡量垂直的缺陷，但不適用于檢測(cè)延伸方向與磁力線方向夾角小于20度的缺陷。

6.適用于檢測(cè)工件表面和近表面較小的缺陷，不適合檢測(cè)淺而寬的缺陷。

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