羅德與施瓦茨聯(lián)合六幺四科技推出400G光模塊測試方案

5G通信和大數(shù)據(jù)中心等系統(tǒng)對數(shù)據(jù)流量需求大幅攀升，帶動了對數(shù)據(jù)傳輸?shù)母咝枨螅?00G將是新一代數(shù)據(jù)中心和骨干網(wǎng)建設(shè)的大勢所趨。400G光模塊是400Gbps系統(tǒng)的核心部件，其主要功能是光電轉(zhuǎn)換：在發(fā)送端將電信號轉(zhuǎn)變成光信號，再通過光纖進行傳送，到了接收端再將光信號轉(zhuǎn)變成電信號。400G光模塊芯片則是形成400G光模塊的基礎(chǔ)，是400Gbps系統(tǒng)競爭的關(guān)鍵制高點。

光模塊芯片的頻域測試，是測量和評估光模塊芯片頻域帶寬、3dB截止頻率、反射、差分參數(shù)、群延時、二階互調(diào)、三階交調(diào)等特性的關(guān)鍵測試步驟，是晶片在片測試、器件封裝測試等工藝流程中的必須工序。羅德與施瓦茨(Rohde & Schwarz)和六幺四科技(Newkey Photonics)合作開發(fā)和推出的400G光模塊芯片頻域測試方案ZNA-GOCA，將羅德與施瓦茨的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀ZNA67和六幺四科技的光電底座GOCA67進行硬件和軟件集成，形成一套精確、穩(wěn)定、高效的光模塊芯片頻域測試方案。

多家光通信產(chǎn)業(yè)引領(lǐng)企業(yè)用戶已選用羅德與施瓦茨和六幺四科技開發(fā)的ZNA-GOCA方案為其400G光模塊芯片的研發(fā)測試和生產(chǎn)測試線的頻域測試方案。同時，面向未來800Gbps光通信系統(tǒng)的110GHz頻域和測試方案也已完成用戶驗證。

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試方案

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試方案采用“微波光子技術(shù)”，突破了傳統(tǒng)方法對測量分辨率和相位精確度的限制，實現(xiàn)微波頻譜掃描向光波光譜掃描的映射，配合電-光、光-電和光-光校準技術(shù)，實現(xiàn)大帶寬、高精度、高分辨率的元器件頻譜響應(yīng)測試。在頻率分辨率、幅度分辨率、相位精確度和動態(tài)范圍等關(guān)鍵參數(shù)上，均實現(xiàn)大幅度提升。

GOCAS光模塊芯片頻域測試軟件界面

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試的測試對象包括：(1)電光器件。如強度調(diào)制器(馬赫增德爾調(diào)制器)、幅度調(diào)制器、電吸收調(diào)制器、直調(diào)激光器、光發(fā)射模塊或鏈路等;(2)光電器件。如PIN光電二極管、雪崩光電二極管(APD)、單行載流子光電二極管(UTC PD)、光接收模塊或鏈路等;(3)光光器件。如光纖、光纖光柵、光集成微環(huán)/盤/球、高非線性光纖、可調(diào)光延時線、可調(diào)光濾波器、微波光子鏈路等。可測參數(shù)包括：S參數(shù)，3dB截止頻率，群延時，差分和共模參數(shù)等。

典型測試結(jié)果如下：

I.光-電器件(待測件：50GHz高速光電探測器)

Ⅱ.電-光器件(待測件：50Gbps高速電光調(diào)制器)

Ⅲ.光-光器件測量(待測件：光微環(huán)芯片)