電橋測(cè)試儀原理
Vx與Vr均是矢量電壓表,Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是:當(dāng)DUT(Device Under Test)接入電路時(shí),放大器的負(fù)反饋配置自動(dòng)使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測(cè)定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0),Vr與Rr測(cè)得DUT電流Ix,由此可計(jì)算Zx。
HP4275的測(cè)試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標(biāo)c代表current, 下標(biāo)p代表Potentail),Guard(接地)的配置可導(dǎo)致測(cè)試的誤差的差異。
提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT; 2,減小測(cè)試電流Ix的回路面積&磁通量(關(guān)鍵是分析Ix,要配合使用Guard與Cable最小化回路面積);3,使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號(hào)線間的電場(chǎng)連接,雖然會(huì)增加信號(hào)線的對(duì)地電容(對(duì)地電容不影響測(cè)試結(jié)果),但是會(huì)減少信號(hào)線的互容。
Guard與Cable的對(duì)地寄生阻抗(Zhg,Zlg) 不影響測(cè)試結(jié)果,電橋平衡時(shí)Zlg的兩端電壓是0,流向Rr的電流不會(huì)被Zlg分流,Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測(cè)量。
電橋測(cè)試儀能測(cè)試哪些東西
電容電橋測(cè)量?jī)x主要是對(duì)無(wú)功補(bǔ)償裝置的高壓并聯(lián)電容組,以及電抗器的測(cè)量,其測(cè)量依據(jù),符合SJ-255-10300電容測(cè)量?jī)x國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。
它主要解決了以下問(wèn)題:
1. 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量電容器不需拆除連接線,減化試驗(yàn)過(guò)程、有效提高工作效率、避免損害電力設(shè)備;
2. 完整參數(shù)測(cè)量,極易判別電容器的品質(zhì)變化,及器件間連接導(dǎo)體故障;
3. 大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和USB通信,不需現(xiàn)場(chǎng)抄寫(xiě)數(shù)據(jù),確保了測(cè)量數(shù)據(jù)完整。
電橋測(cè)試儀可以測(cè)量磁通量嗎?
電橋測(cè)試儀是可以測(cè)量磁通量的。磁通量通常通過(guò)通量計(jì)進(jìn)行測(cè)量。通量計(jì)包括測(cè)量線圈以及估計(jì)測(cè)量線圈上電壓變化的電路,從而計(jì)算磁通量。
電橋測(cè)試儀的作用
數(shù)字電橋可用于計(jì)量測(cè)試部門(mén)對(duì)阻抗量具的檢定與傳遞,以及在一般部門(mén)中對(duì)阻抗元件的常規(guī)測(cè)量。很多數(shù)字電橋帶有標(biāo)準(zhǔn)接口,可根據(jù)被測(cè)值的準(zhǔn)確度對(duì)被測(cè)元件進(jìn)行自動(dòng)分檔;也可直接連接到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),用于元件生產(chǎn)線上對(duì)產(chǎn)品自動(dòng)檢驗(yàn),以實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量控制。80年代中期,通用的誤差低于0.1%的數(shù)字電橋有幾十種。數(shù)字電橋正向著更高準(zhǔn)確度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面發(fā)展。
電容C,電感L,電阻R是電子工程師在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中最常用的電子元器件。作為常見(jiàn)的小小的被動(dòng)器件,確影響著電路的參數(shù),也直接牽扯的電子產(chǎn)品的優(yōu)劣。所以對(duì)于每個(gè)元器件(電容/電感/電阻),我們要了解其特性參數(shù),也需要時(shí)刻準(zhǔn)確測(cè)量到這些參數(shù)。
LCR測(cè)試儀就是用來(lái)測(cè)試元器件(電容/電感/電阻)參數(shù)的。在一般情況下,電阻只要測(cè)量其直流電阻值就可以了,這樣可以使用萬(wàn)用表(例GDM-8261A)或者電阻測(cè)試儀(例GOM-802),另外固緯電子LCR-8000G系列也具有直流電阻測(cè)量功能。與普通電阻不同,對(duì)于電感和電容,就需要采用交流方式來(lái)測(cè)量。LCR測(cè)試儀就是采用交流電進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于交流電而言,電壓V與電流I的比值是阻抗Z,直流方式下的電阻R只需用‘大小’來(lái)表示,而阻抗Z確包含了‘大小’和‘相位’兩個(gè)要素,在數(shù)學(xué)上用復(fù)數(shù)和矢量來(lái)表示。
電橋測(cè)試儀使用注意事項(xiàng)
1.選擇正確的測(cè)試條件。元器件廠商給出的器件參數(shù)值所代表的是在規(guī)定的測(cè)量條件下能達(dá)到的性能,以及允許出現(xiàn)的偏差值。下圖為部分品牌的電容與頻率的特性曲線。
我們可以看到在不同的測(cè)試頻率下,電容的參數(shù)出現(xiàn)非線性的變化,所以我們對(duì)于測(cè)量某元器件時(shí)候,一定要選擇合適的測(cè)量頻率以及測(cè)量電壓,另外對(duì)于某些器件可能還需要設(shè)置偏置電壓等測(cè)試條件。對(duì)于需要觀測(cè)器件的頻率特性,固緯電子LCR-8000G系列具有頻率掃描測(cè)量模式,能直觀的觀測(cè)不同頻率情況下器件的參數(shù)變化,這點(diǎn)對(duì)于研發(fā)測(cè)試中能給工程師帶來(lái)便利。
2.選擇合適測(cè)量治具。測(cè)量治具也是LCR測(cè)試儀的重要組成部分,對(duì)于封裝方式多樣化的元器件,LCR也有多種測(cè)量治具選擇。以下為固緯LCR測(cè)試治具以及測(cè)量范圍。合適的測(cè)量治具不僅帶來(lái)測(cè)量的便捷,更是測(cè)量準(zhǔn)確性的保證。
3.正確的零點(diǎn)校正。LCR測(cè)試儀的零點(diǎn)漂移會(huì)隨著測(cè)試條件的變換或者是測(cè)試治具的不同而產(chǎn)生改變,所以開(kāi)路以及短路的零點(diǎn)校正非常必要。所以LCR測(cè)試儀都有開(kāi)路和短路校正的設(shè)置。