一款單節(jié)晶體管性能測試電路

　　本文介紹的是一款單節(jié)晶體管性能測試電路圖。如下圖所示，被測單結(jié)晶體管VBT(設(shè)：BT33)與R3、C2組成張弛振蕩器。VBT在導(dǎo)通時(shí)，三極管VT1通過偏置電阻R2獲得偏置電流(此時(shí)S1斷開，S2閉合)，發(fā)光二極管H1發(fā)光。

　　其中，10V電源通過R3經(jīng)VD2向C2充電。電壓表V可以測量出C2兩端的電壓會(huì)隨著時(shí)間的推移在不斷上升，E端電位達(dá)到VBT的峰值電壓時(shí)，VBT的E~B1間便自動(dòng)導(dǎo)通，電容C1上的電壓經(jīng)E~B1放電，使三極管VT1的發(fā)射結(jié)受反偏截止，H1熄滅。如果被測 單結(jié)晶體管VBT是好的，電容C1就會(huì)周而復(fù)始地充電放電，H1就會(huì)明暗交替地閃光。若是H1一直亮著，可將VBT的B1、B2腳調(diào)換檢測(這樣也便于正確區(qū)分出Bl、B2管腳)，要不然則此單節(jié)晶體管是壞管。