關(guān)于LM339 比較器的綜合保護(hù)電路圖

除了電子元器件自身特性之外，溫度也是影響開關(guān)電源可靠性的重要因素之一。電源設(shè)備可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)統(tǒng)計(jì)資料表明，電子元器件溫度每升高2℃，可靠性下降 10%;溫升50℃時(shí)的壽命只有溫升25℃時(shí)的1/6.為了避免開關(guān)電源的元器件因過熱造成損壞，在開關(guān)電源中設(shè)置過熱保護(hù)電路也是必要的。

輸入電壓可以由交流電源整流濾波后取得，它表明的是輸入開關(guān)電源電壓的變化。調(diào)整Rp2可以調(diào)節(jié)過壓、欠壓動(dòng)作的電壓閾值。N1欠為壓比較器，當(dāng)輸入電平(Vc《Va)時(shí)，比較器輸出低電平封鎖驅(qū)動(dòng)信號(hào)。N2為過壓比較器，當(dāng)輸入高電平(Vc》Vb)時(shí)，比較器輸出的也是低電平，因而驅(qū)動(dòng)信號(hào)也被封鎖。當(dāng)對(duì)比的信號(hào)電壓Vc位于門限電壓之間(Va《Vc《Vb)時(shí)，輸出高電平，開關(guān)電源正常工作。下圖所示的電路是利用一個(gè)四比較器LM339與幾個(gè)分立電子元器件構(gòu)成的過壓、欠壓、過熱保護(hù)電路圖。