NI PXI優(yōu)化半導(dǎo)體特性描述/生產(chǎn)測試能力

美商國家儀器(NI)再度擴(kuò)充其PXI平臺功能，以新款PPMU(Per-pin Parametric Measurement Unit)與電源量測單位(SMU)模組，用于半導(dǎo)體特性描述與生產(chǎn)測試。其中，NI PXIe-6556-200MHz高速數(shù)位輸入/輸出(I/O)具備PPMU；PXIe-4140與PXIe-4141 - 4通道SMU可降低設(shè)備成本、縮短測試時(shí)間，并提生混合式訊號的彈性，測試多款裝置。

PXIe-6556高速數(shù)位I/O模組，可達(dá)最高200 MHz而產(chǎn)生/擷取數(shù)位波形；或于同一針腳上，以1%誤差之內(nèi)執(zhí)行直流電(DC)參數(shù)量測，可簡化接線作業(yè)、減少測試次數(shù)，并提高測試器密度。此外，其內(nèi)建的時(shí)序校準(zhǔn)功能可自動調(diào)整時(shí)序，可降低不同連接線與線路(Trace)長度所造成的時(shí)序歪曲，亦可降至最低。同時(shí)，亦可選擇是否以其他SMU切換，以達(dá)更高精確度，工程師可根據(jù)硬體或軟體觸發(fā)器，進(jìn)而觸發(fā)參數(shù)量測作業(yè)。

PXIe-4140/41 SMU模組則可于各PXIe插槽，提供最多四個(gè) SMU 通道；而4U機(jī)架高度的單一PXI機(jī)箱可達(dá)最多六十八個(gè)SMU通道，以輕松測試高針腳數(shù)的裝置。透過1秒可達(dá)最多六十萬樣本的取樣率，工程師可大幅減少量測次數(shù)，或擷取重要的暫態(tài)特性參數(shù)。此外，PXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術(shù)，讓工程師可根據(jù)任何已知負(fù)載而微調(diào)SMU輸出，達(dá)到最高穩(wěn)定度與最短暫態(tài)期間。傳統(tǒng) SMU 技術(shù)并無法提供如此功能。

整合NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟體之后，新款PPMU與SMU模組更能為半導(dǎo)體，提供模組化的軟體定義測試方式，不論是檢驗(yàn)、生產(chǎn)、特性描述作業(yè)，均可提高品質(zhì)、降低成本，并縮短測試時(shí)間。

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