【SEMICON China 2011】Multitest展示最新技術并舉辦“測試成本高級研討會”

Multitest在2011年3月15日至17日在上海新國際博覽中心舉辦的SEMICON China 2011展示一系列先進的產(chǎn)品和解決方案，并舉辦“測試成本高級研討會”。

Multitest推出的MT2168測試分選機是一個完美的“全能型”平臺，它同時具備靈活性及經(jīng)濟性，不僅適用于集成設備制造商，也適用于分包商及全系列應用。MT2168優(yōu)化了最終測試中的測試單元利用率，提供了顯著的測試成本優(yōu)勢，優(yōu)化了測試單元效率，具備前所未有的配置能力和最高的制造可靠性。

Multitest的測試插座產(chǎn)品系列提供的連接解決方案適用于所有類型的分揀器、含鉛封裝和無鉛封裝、陣列封裝和在線封裝，還有間隙最小達0.25 mm的器件，以及單一測試、條帶測試和WLCSP。該測試插座系列涵蓋了–60° C到200° C整個溫度范圍內最廣泛的應用，包括高達40 GHz的帶寬，高達1,000 A 的高功率/高電流和KELVIN測試插座。

同時, Multitest還將現(xiàn)場演示Plug & Yield?解決方案。Plug & Yield?能夠幫助用戶以更快速度和最低成本將產(chǎn)品投放市場。這一解決方案實現(xiàn)了更好的資源利用和更快“收益時間”。同時，Plug & Yield?解決方案帶來更高的生產(chǎn)測試合格率和長期有效的測試技術合作關系。

更值得期待的是, Multitest將于3月16日在W2展廳的M2會議室舉辦 “測試成本高級研討會”。 該研討會將圍繞以下主題展開：影響測試成本的主要因素；測試座如何大幅影響測試成本；優(yōu)化測試設備使用以達到最佳測試成本；協(xié)調測試配置以達到最佳性能。研討會對所有感興趣的業(yè)界同仁開放，歡迎大家參與交流。

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