Multitest將在SEMICON China 2011期間舉辦“測試成本高級研討會”

Multitest 宣布其將在SEMICON China 2011期間舉辦“測試成本高級研討會”，會議定于3月16日在W2展廳的M2會議室舉辦。2010年SEMICON China展會將于3月15日至17日在上海新國際博覽會中心舉辦。

該研討會將圍繞以下主題展開：影響測試成本的主要因素；測試座如何大幅影響測試成本；優(yōu)化測試設備使用以達到最佳測試成本；協調測試配置以達到最佳性能。研討會對所有感興趣的業(yè)界同仁開放，歡迎各位人士參與交流。如需了解更多詳情或報名參加，請登錄http://www.multitest.com/summit.

屆時，Multitest公司客戶經理易曉波先生將用中文進行技術講座，由業(yè)務部經理Günther Jeserer協助進行。易曉波先生曾就讀于中國電子科技大學的激光技術專業(yè)，他于2004年Multitest在中國成立辦事處伊始，就加入了Multitest公司任職客戶經理。

Günther Jeserer先生曾讀于德國慕尼黑技術大學的電氣工程與信息技術專業(yè)。 當1984年他還在大學讀書時，就在羅森海姆加入了Multitest公司。他曾任職軟件工程師、項目和產品經理等若干職位，現任重力和拿放式分選機部門的業(yè)務經理。

Multitest公司經濟實力強大，能夠不斷投資于研發(fā)，招募訓練有素的工程人員。通過與客戶密切合作，Multitest深知當前及未來的市場趨勢和測試要求，不斷利用其資源以及對市場的深刻洞察，創(chuàng)新推出性能卓越且具成本效益的測試解決方案，以真正滿足任何需求。

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