Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測(cè)試成本

面向世界各地的集成設(shè)備制造商（IDM）和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其Dura Kelvin測(cè)試座再次證明在超長的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠，Dura Kelvin測(cè)試座顯著降低了總體測(cè)試成本。
在項(xiàng)目期限內(nèi)，首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura Kelvin明顯超過了所有目標(biāo)，使用壽命已超過4百萬次插撥，這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98.5%。真正令人贊嘆的是與清洗頻率相關(guān)的成就。
Dura Kelvin 僅需要在大約100個(gè)小時(shí)之后清洗。與原來的測(cè)試單元配置相比，這使與清洗相關(guān)的測(cè)試單元停機(jī)時(shí)間降低了90%。尤其對(duì)于低溫測(cè)試而言，這具有重要影響。
所有上述先進(jìn)性能為IDM帶來了獨(dú)特的測(cè)試成本優(yōu)勢(shì)。