ADI將攜業(yè)界領(lǐng)先產(chǎn)品技術(shù)亮相 IIC-China 2011

Analog Devices, Inc. (ADI)將于2011年2月24日至26日亮相深圳，參加國(guó)際集成電路研討會(huì)暨展覽會(huì)（IIC-China 2011 Spring），展示其主要針對(duì)工業(yè)自動(dòng)化及醫(yī)療電子等領(lǐng)域的眾多高性能產(chǎn)品和解決方案，并借技術(shù)應(yīng)用論壇的機(jī)會(huì)與齊聚“鵬城”的電子業(yè)各界人士深入交流最新的技術(shù)和應(yīng)用實(shí)例。
作為被業(yè)內(nèi)廣泛認(rèn)可的領(lǐng)先企業(yè)，ADI 始終將解決各領(lǐng)域?qū)嶋H應(yīng)用中的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)作為其技術(shù)研發(fā)的核心目標(biāo)，在此次大會(huì)上 ADI 將重點(diǎn)展示包括電表及自動(dòng)抄表解決方案、電機(jī)控制解決方案、繼電保護(hù)完整解決方案、可編程邏輯控制參考方案、醫(yī)用超聲解決方案、針對(duì)診斷級(jí) ECG 應(yīng)用的集成模擬前端子系統(tǒng)等在內(nèi)的一系列技術(shù)創(chuàng)新成果，呈現(xiàn)給觀眾一次 ADI 高性能產(chǎn)品的盛宴。
ADI 公司亞洲區(qū)行業(yè)市場(chǎng)總監(jiān)周文勝表示：“ADI 在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換技術(shù)、高性能模擬器件以及數(shù)字信號(hào)處理方面擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)、領(lǐng)先的技術(shù)和優(yōu)秀的產(chǎn)品，并長(zhǎng)久以來致力于促進(jìn)中國(guó)電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。我們的創(chuàng)新能力在中國(guó)和國(guó)際市場(chǎng)上都得到了高度贊譽(yù)和認(rèn)可。通過參加 IIC-China 這樣的業(yè)界技術(shù)盛會(huì)，我們希望能夠進(jìn)一步將先進(jìn)的技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)分享給中國(guó)的同業(yè)者和客戶，讓大家在交流中共同進(jìn)步?！?BR>此外，ADI 公司的技術(shù)精英代表，將于2月25日在 ADI 研討會(huì)專場(chǎng)上發(fā)表演講，分享公司最新的技術(shù)進(jìn)展。他們將分別就“醫(yī)療超聲中 TGC 通道設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)和解決方案”、“高性能16位同步采樣 ADC—AD7606暨在繼電保護(hù)中的應(yīng)用”和“ADI 高性能處理器 BF506F及電機(jī)控制參考設(shè)計(jì)”等話題，與來賓觀眾互動(dòng)溝通，深度解讀 ADI 以其先進(jìn)技術(shù)為電子行業(yè)帶來的不斷革新。
除產(chǎn)品與技術(shù)展示外，ADI 還將帶來廣受推崇的實(shí)驗(yàn)室電路（Circuits from the Lab）。Circuits from the Lab™ 實(shí)驗(yàn)室電路是經(jīng)過測(cè)試的參考電路，有助于加速設(shè)計(jì)，同時(shí)簡(jiǎn)化系統(tǒng)集成，幫助并解決相關(guān)設(shè)計(jì)中的挑戰(zhàn)。在此次 IIC 展上 ADI 帶來了全新內(nèi)容的實(shí)驗(yàn)室電路。除了在以往電路中提供了電路的設(shè)計(jì)原理，使用的產(chǎn)品信息及測(cè)試數(shù)據(jù)外，還增加了實(shí)際的硬件平臺(tái)包括原理圖，布線圖，材料清單（BOM）以及軟件，驅(qū)動(dòng)程序等信息。使工程師們更容易地進(jìn)行測(cè)試、評(píng)估、集成，并縮短設(shè)計(jì)周期。
另外，ADI 公司即將推出 IIC-China 2011在線有獎(jiǎng)問答活動(dòng)，活動(dòng)期間，登陸網(wǎng)站正確回答有關(guān)ADI 公司參展的問題，即有機(jī)會(huì)贏取 ADI 公司的精美禮品。獲獎(jiǎng)名單將在 IIC-China 2011深圳站抽取。