強調(diào)半導體無損檢測，GE在世界無損檢測大會上展示新技術

時間：2008-11-10 07:27:34

關鍵字：無損檢測半導體 GE PHOENIX

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[導讀]無損檢測GE傳感與檢測科技不久前在上海召開的世界無損檢測大會(WCNDT)上展出了其在無損檢測(NDT)領域的最新解決方案。作為此次大會的主贊助商，該公司推出了一系列尤其引人注目的產(chǎn)品，其中包括：第一臺真正意義上的

無損檢測GE傳感與檢測科技不久前在上海召開的世界無損檢測大會(WCNDT)上展出了其在無損檢測(NDT)領域的最新解決方案。作為此次大會的主贊助商，該公司推出了一系列尤其引人注目的產(chǎn)品，其中包括：第一臺真正意義上的手持式工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡XL Go、CRx Flex計算機射線成像掃描儀(專為NDT領域開發(fā))、Phasec 3系列便攜式渦流探傷儀以及全新的Phasor系列便攜式相控陣探傷儀。

所謂NDT，即Non-destructive testing，是指對材料或工件實施一種不損害或不影響其未來使用性能或用途的檢測手段。廣泛的應用于石油天然氣、航空航天、電力、汽車以及通用工程領域。在半導體領域，NDT一詞也并不陌生。無論在SOI、半導體拋光晶片缺陷檢測、高速信號處理檢測、集成電路焊接的檢測方面，都可以看到NDT技術活躍的身影。而在對品質(zhì)要求極為嚴格的汽車半導體領域，NDT也在受到越來越多汽車半導體廠商的重視。

“同其他行業(yè)一樣，NDT同樣廣泛的使用在半導體和電子制造業(yè)。”在大會第二天舉行的記者會上，GE傳感與檢測科技業(yè)務總監(jiān)Jeff Anderson表示，“比如我們的Phoenix X掃描系統(tǒng)，無論在半導體制造、元器件的檢測還有印刷板的檢測上都有著相當廣泛的應用?！?/FONT>

盡管早在一年前GE就已經(jīng)收購了德國Phoenix X射線公司，但是此次大會才是兩者技術結(jié)合后的首次聯(lián)袂亮相。Phoenix X系列的新產(chǎn)品，計算機斷層和2D微焦點及納米焦點X射線掃描系統(tǒng)成為GE展臺上較為引人注目的產(chǎn)品之一。

Phoenix X計算機斷層掃描系統(tǒng)的應用范圍相當廣泛。從緊湊型實驗室系統(tǒng)(如Nanotom)到花崗巖工作臺上的CT，不一而足。此外，它在汽車行業(yè)也有廣泛應用。“每一項設計工作都是為了精確運行而進行的。此外，我們還配備了GE內(nèi)部開發(fā)的數(shù)據(jù)采集和斷層掃描軟件，以便更加輕松地對系統(tǒng)進行控制，從而迅速精確的重構被測物體的數(shù)據(jù)。”