惠瑞捷增并行機(jī)制縮減存儲(chǔ)器測(cè)試開(kāi)發(fā)時(shí)間

    惠瑞捷存儲(chǔ)測(cè)試解決方案部門副總裁兼總經(jīng)理GaynErickson說(shuō)：“對(duì)于那些正在尋找一套測(cè)試開(kāi)發(fā)系統(tǒng)的存儲(chǔ)器制造廠商而言，以前最佳的選擇就是花費(fèi)數(shù)百萬(wàn)另建一套最終測(cè)試系統(tǒng)。然而借助于該矩陣，V5000e的用戶可以在測(cè)試開(kāi)發(fā)和調(diào)試的環(huán)境下使用這些功能?！?

    此矩陣最初的設(shè)計(jì)目的是為了在最終產(chǎn)品測(cè)試階段降低測(cè)試成本，到目前為止，此矩陣僅配備在VerigyV5500最終測(cè)試系統(tǒng)上?；萑鸾蓍_(kāi)發(fā)出應(yīng)用于V5000e的新版本的矩陣，以滿足在測(cè)試開(kāi)發(fā)設(shè)置方面對(duì)強(qiáng)大且靈活的解決方案日益增長(zhǎng)的需求，這些解決方案可以處理多種存儲(chǔ)器類型，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及MCP。

    V5000e于2005年開(kāi)始供貨，作為領(lǐng)先的工程工作站，用于測(cè)試所有的存儲(chǔ)器類型，它具備可升級(jí)的平臺(tái)構(gòu)架，擁有辦公環(huán)境設(shè)計(jì)，以及工程開(kāi)發(fā)所必需的強(qiáng)大功能和靈活性。

    先進(jìn)特性——擁有最大的投資回報(bào)和更低的測(cè)試成本

    憑借該矩陣，V5000e提供給用戶可擴(kuò)展的功能和性能，現(xiàn)已可并行測(cè)試12顆芯片(DUT)。此矩陣在V5000e測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上將引腳數(shù)量由128個(gè)輸入/輸出引腳增加到768個(gè)測(cè)試器資源引腳，能夠完成具有更高引腳數(shù)量存儲(chǔ)器的測(cè)試。它所提供的靈活性將與V5000e一起共同滿足當(dāng)前以及新興的測(cè)試系統(tǒng)需求。

    此矩陣允許測(cè)試儀器在引腳間自動(dòng)轉(zhuǎn)換資源，而無(wú)需手動(dòng)重新插入，這樣既縮短了總體測(cè)試時(shí)間，也降低了必要的手動(dòng)干預(yù)次數(shù)。當(dāng)測(cè)試MCP設(shè)備時(shí)該特性尤為重要，因?yàn)樵诖袦y(cè)試的時(shí)候，測(cè)試資源可以在MCP中不同元件之間自動(dòng)轉(zhuǎn)移，而無(wú)需手動(dòng)重新插入。對(duì)于需要花費(fèi)很久時(shí)間的寫入和擦除二項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試系統(tǒng)資源可以自動(dòng)并行測(cè)試，然后轉(zhuǎn)換回串行模式讀取測(cè)試。