威盛購買科利登失效分析實驗室

時間：2005-11-28 15:24:25

關(guān)鍵字：調(diào)試半導體特征分析 FOUNDRY

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[導讀]科利登系統(tǒng)公司日前宣布，威盛電子成為臺灣地區(qū)首家從科利登購買整套用于設(shè)計、調(diào)試和特征分析的電性失效分析實驗室的無晶圓廠半導體公司。科利登公司稱，其65nm技術(shù)的實驗室解決方案包括電子發(fā)射顯微系統(tǒng)，具有時間

科利登系統(tǒng)公司日前宣布，威盛電子成為臺灣地區(qū)首家從科利登購買整套用于設(shè)計、調(diào)試和特征分析的電性失效分析實驗室的無晶圓廠半導體公司。科利登公司稱，其65nm技術(shù)的實驗室解決方案包括電子發(fā)射顯微系統(tǒng)，具有時間精度的發(fā)射技術(shù)、激光掃描顯微系統(tǒng)，以及電路編輯。該解決方案通過提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量，能為半導體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報率。它能增加首次流片的成功概率，加速產(chǎn)品上市時間，加快關(guān)鍵缺陷的失效分析，從而減少產(chǎn)品開發(fā)及掩模板時故障隔離的成本。同時，它能在芯片設(shè)計和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進行有效的特征分析。威盛電子MPE部門副總裁Shelton Lu說：“因為只需與同一個公司合作，所以我們能夠在整個設(shè)計和調(diào)試流程中最好地利用科利登的技術(shù)和專業(yè)優(yōu)勢?？评翘峁┮徽淄陚涞南冗M實驗室解決方案，涵蓋了那些所必需的先進調(diào)試工具，同時又保護了fabless和foundry之間的臨界知識產(chǎn)權(quán)?？评堑慕鉀Q方案非常適合威盛的商業(yè)模式。”