吉時利儀器公司日前宣布對其屢獲殊榮的4200-SCS半導體特征分析系統(tǒng)進行全面的硬件、固件和軟件升級。吉時利測試環(huán)境交互式軟件（KETI）V7.2版經過升級囊括九種新的太陽能電池測試庫，擴展了系統(tǒng)電容-電壓（C-V）測量功能的頻率范圍，支持該公司最新九槽4200-SCS儀器架構。
KTEI V7.2新增測試庫增強了4200-SCS進行太陽能電池I-V、C-V和電阻測試的功能，隨著市場對可替代能源技術更加關注、政府支持力度加大的情況下，此類測試功能將變得更加重要。本次軟件升級支持最新太陽能電池測試技術DLCP（Drive-Level Capacitance Profiling，激勵電平電容壓型），而采用原來的測試方案很難精確測試。DLCP能提供薄膜太陽能電池上的缺陷密度信息，2007年11月份推出的4200-CVU型電容-電壓測試卡經過改動可直接支持這一測試技術。KTEI V7.2版對現(xiàn)有4200-SCS用戶免費。
為支持DLCP測試，4200-CVU的頻率范圍從10kHz～10MHz擴展到1KHz～10MHz。經擴展的頻率范圍也擴大了系統(tǒng)的應用領域，支持平板LCD和有機半導體（例如有機發(fā)光二極管OLED）測試。
隨著I-V、脈沖和C-V特征分析應用的不斷增長，需要更大測試靈活性和更強功能的4200-SCS用戶逐漸發(fā)現(xiàn)主機有些擁擠不堪。為滿足這一需要，本次V7.2版升級支持九槽主機架構。以前的4200-SCS有八個插槽，安裝越來越多的源測量單元（SMU）、脈沖發(fā)生器和示波器卡以及電容-電壓測量卡?，F(xiàn)在的4200-SCS系統(tǒng)經過升級可以支持九個插槽；所有新的主機都將提供九個插槽。
為支持V7.2版的升級，吉時利推出一款新的高性能三同軸線纜套件，用于連接4200-SCS和探測器，能大大簡化在直流I-V、C-V和脈沖測試配置之間轉換的過程。本款新的線纜套件無需用戶重新進行布線即能消除由于布線誤差導致的測量誤差。其中包括兩種線纜套件——一種適用于Cascade Microtech探測器，另一種適用于SUSS MicroTec探測器。
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