21ic訊 2012 年3 月27 日加州庫比蒂諾報導－ 半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy) （Advantest Group 愛德萬集團（東京證交所：6857，紐約證交所：ATE）子公司）今天宣布ISE Labs 在加州費利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠引進V93000 Smart Scale™ 數(shù)位量測模組以及Pin Scale測試機種之測試設備，進一步擴展雙方對于測試開發(fā)服務的合作關系。
雙方長遠結(jié)盟關系的最新計畫即為ISE Labs 奧斯汀廠將開始采用惠瑞捷的Pin Scale 技術開發(fā)先進的測試方法，針對最新一代低功耗安謀（ARM）架構伺服器處理器，搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 介面、消費性IC 如智慧媒體芯片內(nèi)建系統(tǒng)(SOC) 設備，應用于下一代的媒體閘道器與機上盒。為達成上述目標， ISE Labs 奧斯汀廠安裝L 級測試頭的V93000 Pin Scale 測試機臺，在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及800 數(shù)位量測模組下，具備超過900 個數(shù)位信號腳位供測試。
此外，硅谷最大的半導體測試實驗室— ISE Labs 費利蒙廠，亦引進了兩臺配備Pin Scale 1600數(shù)位量測模組的V93000 Smart Scale 測試機，用以測試客戶量產(chǎn)的IC。其中一套系統(tǒng)使用Pin Scale 1600 以及9G 數(shù)位量測模組，有超過1, 000 個腳位的C 級測試頭；另一個系統(tǒng)則配備惠瑞捷最小的A 級測試頭，配有512 個數(shù)位量測腳位以及MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組。兩套系統(tǒng)均可擴充升級，提供增加數(shù)位量測腳數(shù)，或新增測量資源，如惠瑞捷的Port Scale 射頻解決方案。 ISE Labs 所采用的惠瑞捷Smart Scale 技術，是硅谷測試服務供應商中的首創(chuàng)之舉。
ISE Labs工程與測試服務副總裁Rabbi-ul Islam 表示：「我們對于與惠瑞捷的長期合作關系，一直感到相當滿意，也很高興能夠在奧斯汀技術中心開始實施其經(jīng)認證的Pin Scale 技術。
惠瑞捷北美銷售暨支援部門副總裁Sanjeev Mohan 強調(diào)：「能獲得ISE Labs 青睞，將新一代Smart Scale 系統(tǒng)運用于技術開發(fā)以及商業(yè)測試服務，對我們來說是一件令人振奮的消息。V93000 per-pin的彈性建置讓我們在各項測試應用都能達到業(yè)界領先的水準。
惠瑞捷的可擴展Smart Scale 測試系統(tǒng)以及數(shù)位信號量測模組，展現(xiàn)最具經(jīng)濟效益的先進半導體設計測試，包括28nm 技術節(jié)點及以下的3D 堆疊與IC設計。
Pin Scale 1600 數(shù)位量測模組在測試靈活性方面開拓一個嶄新領域。此模組的萬用per-pin 架構，讓每個通道在測試下都能夠發(fā)揮各種裝置所需的功能，帶來最大的靈活性。 Per-pin功能包括獨立時脈網(wǎng)域、高精準度的直流電與業(yè)界領先的數(shù)位效能，都可以透過Pin Scale 1600 進行強化。
惠瑞捷的Pin Scale 9G 針腳量測模組是唯一完全整合、高速、數(shù)位化且能夠涵蓋自直流到超過每秒8Gb，符合成本的高速測試制具。高度多樣化的Pin Scale 9G 針腳量測模組可測試包括平行或序列式、單點或多點、單向或雙向的介面。
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