2012TD-LTE測試技術(shù)研討會：TD-LTE發(fā)展及與FDD差距
[導(dǎo)讀]近日，“2012TD-LTE測試技術(shù)研討會”舉辦，對TD-LTE的發(fā)展以及與FDD的差距等進行研討。該研討會由工信部電信研究院和TD技術(shù)論壇合辦。近日，TDD頻譜根據(jù)工信部的新的劃分，將包括2.6GHz頻段的2500-2690Hz等頻譜，這意
近日，“2012TD-LTE測試技術(shù)研討會”舉辦，對TD-LTE的發(fā)展以及與FDD的差距等進行研討。該研討會由工信部電信研究院和TD技術(shù)論壇合辦。
近日，TDD頻譜根據(jù)工信部的新的劃分，將包括2.6GHz頻段的2500-2690Hz等頻譜，這意味著TD-LTE開始邁向商業(yè)化。隨著這份的調(diào)整，以及TD-LTE測試技術(shù)的穩(wěn)步發(fā)展，TD-LTE正在穩(wěn)步發(fā)展。TD-LTE首次終端招標結(jié)果也已經(jīng)公布，涉及TD-LTE數(shù)據(jù)卡、手機等多類終端共3萬多終端的采購，16家企業(yè)中標。
不過TD-LTE的發(fā)展還需要進一步推進，要認識到目前存在的不足，尤其是與FDD相比還存在較大差距。TD-LTE的關(guān)鍵環(huán)節(jié)是終端芯片和測試儀表，但這同時也是其薄弱環(huán)節(jié)。目前在測試儀表方面，TD-LTE還無法與FDD相比，但值得慶幸的是TD-LTE終端芯片與FDD差距已經(jīng)逐漸縮小了。
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