近日，美國國家儀器(National Instruments，簡稱NI)，與思瑞浦微電子，簡稱3PEAK，宣布達成戰(zhàn)略合作，旨在借力NI高性能模塊化儀器實現實驗室自動化測試，提高實驗室驗證測試效率、加快產品開發(fā)速度。
據IC Insights預測，2018年集成電路的銷售額將增長8%左右，2017年的增長約為22%。而電源管理IC、專用模擬芯片和信號轉換器的強勁銷售預計將成為未來五年模擬增長的主要推動力。而在近年來中國模擬芯片市場上，智能終端設備、汽車電子等下游驅動力在近幾年推動了對模擬芯片的需求，一些優(yōu)秀的中國本土廠商也正在快馬加鞭迎頭趕上，在門檻極高的模擬領域實現突破。
思瑞浦微電子科技(蘇州)股份有限公司，簡稱3PEAK。研發(fā)中心設在上海張江高科和蘇州工業(yè)園區(qū)，是國內極少數聚焦高性能模擬信號鏈的IC設計公司，歷經10年的發(fā)展與積累，在運算放大器、模數轉換、數模轉換、視頻濾波、音頻濾波、接口芯片、電源管理等領域，積累了大量正向研發(fā)IP,并持續(xù)實現大規(guī)模量產，同時公司產品被大量廣泛的應用于國內外一線品牌客戶，涵蓋工業(yè)領域、醫(yī)療設備、汽車電子、通信系統(tǒng)和信息安全等多種應用領域。
模擬芯片由于其復雜性，在實驗室階段進行的驗證性測試尤為重要。在傳統(tǒng)的ADC/DAC測試中，均是采用的臺式儀器和分析軟件完成驗證測試，但是NI基于PXI的模塊化儀器在同步定時技術和多種儀表整合性上的優(yōu)勢大幅簡化了ADC與DAC產品測試難度，可將信號源、時鐘、數字Pattern Generator、源測量單元SMU、數字萬用表DMM等多種儀表整合在一個小型PXI機箱中，并結合圖形化編程軟件LabVIEW快速進行針對ADC/DAC的線性度和動態(tài)特性測試，降低實驗室自動化測試開發(fā)難度。
NI的開放性平臺在高集成度和高性能之間兼顧，在信號源上24-bit高精度和針對射頻的信號源滿足不同應用場景的ADC的需求，同時NI是業(yè)界首個將傳統(tǒng)ATE平臺上的Pattern Generator整合到PXI平臺，在PXI平臺上實現ATE級的數字測試。
NI與3PEAK在ADC/DAC實驗室測試僅僅是一個開始，后面還將合作方向擴大到高精度ADC/DAC等產品線。正如NI亞太區(qū)半導體業(yè)務拓展經理何為女士所說的：“NI非常高興能夠和3PEAK這樣優(yōu)秀的本土模擬芯片設計公司進行合作。NI通過平臺化的解決方案幫助用戶在實驗室和量產測試中提升測試效率，幫助3PEAK及更多的中國本土優(yōu)秀模擬芯片設計公司提升產品競爭力。”
3PEAK產品與市場總監(jiān)宋浩然先生表示：“3PEAK非常高興能與NI進行合作。作為國內極少數聚焦高性能模擬信號鏈的IC設計公司，高性能、高品質、高性價比產品是3PEAK的核心競爭力，我們相信，借助于NI高性能模塊化儀器，3PEAK產品的測試效率將會提升，從而縮短產品研發(fā)周期。
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